什麼是光譜量測？
光譜量測的定義
光譜量測是分析光強度分佈與入射波長關係的過程。在光學散射的背景下，它涉及量測不同波長的光如何被材料或表面散射。
這種類型的量測提供了關於材料光學特性（例如折射率、吸收和散射係數）的關鍵資訊，這些資訊對於精確表徵和設計光學系統至關重要。
目錄
為何光譜量測對光學設計很重要？
光譜量測提供精確的數據，讓您能夠最大程度地減少材料中不必要的散射和吸收。例如，它有助於提高透鏡、反射鏡和塗層等光學元件的效率和清晰度。
在光學設計中，準確的模擬結果取決於準確的光學特性。僅憑幾何形狀無法決定光的分布；光線的能量和方向如何變化是由光學特性決定的。因此，盡可能精確地了解設計中將使用的材料的光學特性非常重要。獲得精確光學特性的最佳方法是直接在材料上量測它們，並將數據匯出以用於光學軟體工具。藉由這項能力，研發工程師可以設計出具有特定光學特性的合適材料。
您執行的量測類型可能取決於材料。例如，光譜 雙向散射分佈函數 (BSDF) 量測對於有色材料可能最為相關，因為了解光線如何與不同波長的材料相互作用，可讓您最佳化光學系統的性能。
Keysight 為光譜量測提供哪些解決方案？
Keysight REFLET 180S 是一款專用儀器，旨在提供準確且高精度的光散射特性量測。它配備兩種檢測類型：用於傳統 BSDF 量測的光電二極體，以及用於光譜量測的分光光度計。
您可以在 380 nm 至 760 nm 的波長範圍內量測光譜 BSDF（作為波長函數的 BSDF）。
量測的波長數量是可變的，最小步長為 0.62 nm。分光光度計的動態範圍為 4096:1。
右圖顯示在 10° 入射角下，對黑色金屬化樣本進行的光譜雙向反射分佈函數 (BRDF) 量測。
我們透過使用分光光度計檢測器，從 Keysight REFLET 180S 獲得了這些結果。
如您所見，此樣本的 BRDF 在較長的光波長下更具鏡面反射性，這會顯著影響您的系統性能。
Keysight REFLET 180S 為光譜量測提供了一個強大的解決方案，它具備高精密度和準確度、寬廣的光譜範圍、進階資料分析功能、使用者友善的介面、多功能性，並可與光學設計軟體無縫整合。
這些功能使其成為光學設計師的寶貴工具，旨在最佳化其設計並確保其符合所需的性能規格。此外，REFLET 180S 可與 Keysight 的光學設計工程軟體無縫整合。
提升設計準確度和效率
促進將光譜資料直接傳輸到光學設計模型中，以提升設計過程的準確性和效率。了解 REFLET 180S 如何整合到 Keysight 光學設計工程產品組合中。
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