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是德科技升級邊界掃描分析儀，新增對最新 IEEE 標準的支援
新版本提升了印刷電路板的測試覆蓋率
March 15, 2023
是德科技為 x1149 边界扫描分析仪 進行了增強，支援全新的 IEEE 1149.1-2013 和 IEEE 1149.6-2015 標準，除了典型的結構測試外，還能執行先進的邊界掃描測試，從而顯著提高印刷電路板 (PCB) 的測試覆蓋率。新版本（x1149 邊界掃描分析測試儀 2.0）提供最新的邊界掃描架構，配備晶片內建除錯與分析工具，可識別並解決包含多個智財權 (IP) 與晶粒的複雜積體電路 (IC) 中的缺陷。
x1149 边界扫描分析仪採用 IEEE 1149.1-2013 標準，透過電子晶片識別（ECID）功能，提供追蹤每個積體電路（IC）序號的能力，以實現零件可追溯性與防偽保護。此外，x1146 允許設計人員透過內建自我測試（Built-In Self Test），在實際操作條件下測試任務關鍵型 IC 的效能、可靠度和功能，進而確保 IC 發揮最佳運作狀態。
Keysight 電子產業解決方案群產品管理經理 Adrian Cheong 表示：「符合新版 IEEE 1149.1-2013 標準的 IC 已經開始出貨。有了 x1149，製造商現在可以測試組裝了這些 IC 的 PCB。透過使用邊界掃描測試方法，可以移除連接至這些 IC 的測試點，從而節省現今較小 PCB 上的實體空間，同時保持測試覆蓋率，並確保最終產品的品質。」
當使用支援 IEEE 1149.1-2013 的新版本 x1149 時，設計工程師可預期透過以下測試功能將測試覆蓋率提升約 75%：
- 暫存器助憶碼
- IC重設控制
- 元件初始化機制
- 分割式邊界掃描暫存器
- 電源域支援
- 測試模式持續性
- 電子晶片識別（ECID）
- 程序描述語言（PDL）
Keysight x1149 边界扫描分析仪 Tester 2.0 現已在全球推出。如需更多資訊，請造訪 www.keysight.com/find/x1149。