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DOSSIER 

Keysight améliore son analyseur Boundary Scan en y intégrant la prise en charge des dernières normes IEEE

Cette nouvelle version améliore la couverture des tests sur les cartes de circuits imprimés

March 15, 2023

Keysight a amélioré son analyseur de boundary scan x1149 en y intégrant la prise en charge des nouvelles normes IEEE 1149.1-2013 et IEEE 1149.6-2015, ce qui permet de réaliser des tests de boundary scan avancés allant au-delà des tests structurels classiques et d'augmenter considérablement la couverture de test sur les cartes de circuits imprimés (PCB). Cette nouvelle version – l’analyseur de boundary scan x1149 Tester 2.0 – propose la toute dernière architecture de boundary scan pour le débogage sur puce, ainsi que des outils d’analyse permettant d’identifier et de résoudre les défauts dans des circuits intégrés (CI) complexes comportant plusieurs propriétés intellectuelles et plusieurs puces. 

Analyseur Boundary Scan Keysight x1149

Conforme à la norme IEEE 1149.1-2013, l’analyseur Boundary Scan x1149 permet de suivre les numéros de série de chaque circuit intégré (CI) afin d’assurer la traçabilité des composants et de lutter contre la contrefaçon grâce à la fonctionnalité d’identification électronique des puces (ECID). De plus, le x1146 permet aux concepteurs de garantir un fonctionnement optimal de leurs circuits intégrés en leur offrant la possibilité de tester les performances, la fiabilité et les fonctionnalités des circuits intégrés critiques dans des conditions de fonctionnement réelles grâce à l'autotest intégré (Built-In Self Test). 

« Les circuits intégrés conformes aux nouvelles normes IEEE 1149.1-2013 ont commencé à être commercialisés », a déclaré Adrian Cheong, responsable de la gestion des produits au sein du groupe Electronic Industrial Solution de Keysight. « Grâce au x1149, les fabricants peuvent désormais tester les circuits imprimés équipés de ces circuits intégrés. En utilisant des méthodes de test par balayage des limites, les points de test connectés à ces circuits intégrés peuvent être supprimés, ce qui permet de gagner de la place sur les circuits imprimés actuels, plus compacts, tout en conservant la couverture de test et, par conséquent, en garantissant la qualité des produits finis. »

En utilisant la nouvelle version du x1149 compatible avec la norme IEEE 1149.1-2013, les ingénieurs concepteurs peuvent s'attendre à une augmentation d'environ 75 % de la couverture de test grâce aux fonctionnalités de test suivantes :

  • Mnémonique de registre
  • Commande de réinitialisation du circuit intégré
  • Mécanisme d'initialisation des composants
  • Registre de balayage de périphérie segmenté
  • Prise en charge des domaines d'alimentation
  • Persistance en mode test
  • Identification par puce électronique (ECID)
  • Langage de description procédurale (PDL)

Le testeur d'analyse « Boundary Scan » Keysight x1149 2.0 est désormais disponible dans le monde entier. Pour plus d'informations, rendez-vous sur www.keysight.com/find/x1149.