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BESONDERHEIT 

Keysight erweitert den Boundary Scan Analyzer um die Unterstützung der neuesten IEEE-Standards.

Die neue Version erweitert die Testabdeckung auf Leiterplatten.

March 15, 2023

Keysight hat den x1149 Boundary Scan Analyzer um die Unterstützung der neuen IEEE-Standards 1149.1-2013 und IEEE 1149.6-2015 erweitert. Dies ermöglicht fortschrittliche Boundary-Scan-Tests, die über herkömmliche Strukturtests hinausgehen, und erhöht die Testabdeckung auf Leiterplatten (PCBs) deutlich. Die neue Version – der x1149 Boundary Scan Analyzer Tester 2.0 – bietet die neueste Boundary-Scan-Architektur für On-Chip-Debugging- und Analysetools zur Identifizierung und Behebung von Fehlern in komplexen integrierten Schaltungen (ICs) mit mehreren Schutzrechten und Chips. 

Keysight x1149 Boundary Scan Analyzer

Der Boundary-Scan-Analyzer x1149 nutzt den IEEE-1149.1-2013-Standard und ermöglicht die Verfolgung der Seriennummern jedes integrierten Schaltkreises (IC) zur Rückverfolgbarkeit der Komponenten und zum Schutz vor Fälschungen mithilfe der ECID-Funktion (Electronic Chip Identification). Darüber hinaus bietet der x1146 Entwicklern die Möglichkeit, den optimalen Betrieb ihrer ICs sicherzustellen, indem er ihnen erlaubt, Leistung, Zuverlässigkeit und Funktionalität missionskritischer ICs unter realen Betriebsbedingungen mittels des integrierten Selbsttests zu prüfen. 

„ICs, die dem neuen IEEE 1149.1-2013-Standard entsprechen, werden jetzt ausgeliefert“, sagte Adrian Cheong, Produktmanagement-Manager der Electronic Industrial Solution Group von Keysight. „Mit dem x1149 können Hersteller nun Leiterplatten testen, die mit diesen ICs bestückt sind. Durch den Einsatz von Boundary-Scan-Testverfahren können die mit diesen ICs verbundenen Testpunkte entfernt werden. Dies spart Platz auf den heutigen kleineren Leiterplatten, erhält aber gleichzeitig die Testabdeckung und sichert somit die Qualität der Endprodukte.“

Bei Verwendung der neuen Version des x1149 mit Unterstützung für IEEE 1149.1-2013 können Entwicklungsingenieure mit einer Steigerung der Testabdeckung um etwa 75 % und folgenden Testfunktionen rechnen:

  • Register-Mnemonik
  • IC-Reset-Steuerung
  • Komponenteninitialisierungsmechanismus
  • Segmentiertes Boundary-Scan-Register
  • Unterstützung für Leistungsdomänen
  • Persistenz im Testmodus
  • Elektronische Chip-Identifizierung (ECID)
  • Prozedurbeschreibungssprache (PDL)

Der Keysight x1149 Boundary Scan Analyzer Tester 2.0 ist ab sofort weltweit erhältlich. Weitere Informationen finden Sie unter www.keysight.com/find/x1149 .