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Keysight potenzia l'analizzatore Boundary Scan con il supporto degli standard IEEE più recenti

La nuova versione amplia la copertura dei test sui circuiti stampati

March 15, 2023

Keysight ha potenziato l’analizzatore Boundary Scan x1149 con il supporto dei nuovi standard IEEE 1149.1-2013 e IEEE 1149.6-2015, consentendo test Boundary Scan avanzati che vanno oltre i tipici test strutturali e aumentando significativamente la copertura di test sui circuiti stampati (PCB). La nuova versione – l’x1149 Boundary Scan Analyzer Tester 2.0 – offre la più recente architettura boundary scan per il debug su chip e strumenti di analisi per identificare e risolvere i difetti in circuiti integrati (IC) complessi che contengono più proprietà intellettuali e die. 

Analizzatore Boundary Scan Keysight x1149

Grazie allo standard IEEE 1149.1-2013, l’analizzatore Boundary Scan x1149 offre la possibilità di tracciare i numeri di serie di ciascun circuito integrato (IC) per garantire la tracciabilità dei componenti e la protezione contro la contraffazione tramite la funzione ECID (Electronic Chip Identification). Inoltre, l’x1146 consente ai progettisti di garantire il funzionamento ottimale dei propri circuiti integrati, permettendo loro di testarne le prestazioni, l’affidabilità e la funzionalità in condizioni operative reali tramite il test di autodiagnostica integrato (Built-In Self Test). 

"I circuiti integrati conformi ai nuovi standard IEEE 1149.1-2013 sono già in commercio", ha affermato Adrian Cheong, responsabile della gestione dei prodotti presso l’Electronic Industrial Solution Group di Keysight. "Grazie allo standard x1149, i produttori possono ora testare i circuiti stampati assemblati con questi circuiti integrati. Utilizzando metodi di test boundary scan, è possibile rimuovere i punti di test collegati a questi circuiti integrati, risparmiando spazio sui circuiti stampati odierni, sempre più compatti, pur mantenendo la copertura di test e garantendo così la qualità dei prodotti finali."

Utilizzando la nuova versione dell'x1149 con supporto per lo standard IEEE 1149.1-2013, i progettisti possono aspettarsi un aumento della copertura dei test pari a circa il 75%, grazie alle seguenti funzionalità di test:

  • Registrare mnemonico
  • Controllo del reset dell'IC
  • Meccanismo di inizializzazione dei componenti
  • Registro boundary scan segmentato
  • Supporto dei domini di potenza
  • Persistenza in modalità di prova
  • Identificazione elettronica tramite chip (ECID)
  • Linguaggio di descrizione procedurale (PDL)

Il tester e analizzatore Boundary Scan Keysight x1149 2.0 è ora disponibile in tutto il mondo. Per ulteriori informazioni, visitare il sito www.keysight.com/find/x1149.