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특집
키사이트, 최신 IEEE 표준 지원 기능으로 바운더리 스캔 분석기 성능 강화
프린트 Circuit Board의 테스트 커버리지를 높이는 신제품 출시
March 15, 2023
키사이트는 새로운 IEEE 1149.1-2013 및 IEEE 1149.6-2015 표준에 대한 지원을 추가하여 x1149 바운더리 스캔 분석기(Boundary Scan Analyzer)를 강화했으며, 이를 통해 일반적인 구조적 테스트를 넘어선 고급 바운더리 스캔 테스트가 가능해지고 인쇄 회로 기판(PCB)의 테스트 커버리지가 크게 향상되었습니다. 신제품인 x1149 바운더리 스캔 분석기 테스터 2.0은 칩 내(on-chip) 디버깅을 위한 최신 바운더리 스캔 아키텍처와 여러 IP(지식 재산권) 및 다이가 포함된 복잡한 집적 회로(IC)의 결함을 식별하고 해결하기 위한 분석 도구를 제공합니다.
x1149 바운더리 스캔 분석기는 IEEE 1149.1-2013 표준을 사용하여 전자 칩 식별(ECID) 기능을 통해 부품 추적성 및 위조 방지를 위해 각 집적 회로(IC)의 일련 번호를 추적하는 기능을 제공합니다. 또한 x1146을 통해 설계자는 자체 자체 테스트(Built-In Self Test)를 통해 실제 작동 조건에서 미션 크리티컬 IC의 성능, 신뢰성, 기능 테스트를 수행하여 IC의 최적 작동을 보장할 수 있습니다.
키사이트 전자 산업 솔루션 그룹의 제품 관리 매니저인 에이드리언 청(Adrian Cheong)은 "새로운 IEEE 1149.1-2013 표준을 준수하는 IC가 출하되기 시작했습니다."라며, "x1149를 통해 제조업체는 이제 이러한 IC가 실장된 PCB를 테스트할 수 있습니다. 바운더리 스캔 테스트 방법을 사용하면 이러한 IC에 연결된 테스트 포인트를 제거할 수 있어 오늘날의 더 작은 PCB에서 공간을 절약하는 동시에 테스트 커버리지를 유지하여 결과적으로 최종 제품의 품질을 보장할 수 있습니다."라고 말했습니다.
IEEE 1149.1-2013을 지원하는 새로운 버전의 x1149를 사용할 때, 설계 엔지니어는 다음과 같은 테스트 기능을 통해 테스트 커버리지가 약 75% 향상될 것으로 기대할 수 있습니다.
- 레지스터 니모닉
- IC 리셋 제어
- 컴포넌트 초기화 메커니즘
- 분할된 경계 스캔 레지스터
- 전력 도메인 지원
- 테스트 모드 지속성
- 전자 칩 식별(ECID)
- 절차 설명 언어(PDL)
Keysight x1149 바운더리 스캔 분석기 테스터 2.0이 전 세계에 출시되었습니다. 자세한 내용은 www.keysight.com/find/x1149를 방문하십시오.