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FEATURE
キーサイト、最新のIEEE規格に対応し、バウンダリスキャン・アナライザを強化
新リリースにより、プリント基板のテストカバレッジが向上
March 15, 2023
キーサイトは、x1149 バウンダリスキャン・アナライザを強化し、新しいIEEE 1149.1-2013およびIEEE 1149.6-2015規格のサポートを追加しました。これにより、一般的な構造テストを超えた高度なバウンダリスキャンテストが可能になり、プリント基板（PCB）のテストカバレッジが大幅に向上します。新リリースであるx1149 バウンダリスキャン・アナライザ Tester 2.0は、オンチップデバッグ向けの最新のバウンダリスキャンアーキテクチャと、複数のIP（知的財産）およびダイを含む複雑な集積回路（IC）の欠陥を特定して解決するための分析ツールを提供します。
x1149 バウンダリスキャン・アナライザは、IEEE 1149.1-2013規格を使用し、電子チップ識別（ECID）機能を利用して各集積回路（IC）のシリアル番号を追跡し、部品のトレーサビリティと模倣品対策を行う機能を提供します。さらに、x1146により、設計者は、内蔵自己診断機能（BIST）を介して実際の動作条件下でミッションクリティカルなICのパフォーマンス、信頼性、機能をテストできるため、ICの最適な動作を確保できます。
「新しいIEEE 1149.1-2013規格に準拠したICの出荷が開始されました」と、キーサイトのエレクトロニック・インダストリアル・ソリューション・グループのプロダクト・マネジメント・マネージャーであるAdrian Cheongは述べています。「x1149を使用することで、メーカーはこれらのICを実装したPCBをテストできるようになりました。バウンダリスキャンテスト手法を使用することにより、これらのICに接続されたテストポイントを削除できるため、近年の小型化が進むPCB上の実装スペースを節約しつつ、テストカバレッジを維持し、結果として製品の品質を確保することができます。」
IEEE 1149.1-2013をサポートする新バージョンのx1149を使用する場合、設計エンジニアは次のテスト機能により、テストカバレッジが約75%向上することを期待できます。
- レジスタ・ニーモニック
- ICリセット制御
- コンポーネント初期化メカニズム
- セグメント化バウンダリスキャン・レジスタ
- 電源ドメインサポート
- テストモード永続性
- 電子チップ識別（ECID）
- 手続き記述言語（PDL）
Keysight x1149バウンダリ・スキャン・アナライザ・テスタ 2.0が全世界で提供開始されました。詳細については、www.keysight.com/find/x1149をご覧ください。