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A Keysight aprimora o analisador de Boundary Scan com suporte às normas mais recentes do IEEE
Nova versão amplia a cobertura de testes em placas de circuito impresso
March 15, 2023
A Keysight aprimorou o Analisador de Boundary Scan x1149 com suporte às novas normas IEEE 1149.1-2013 e IEEE 1149.6-2015, permitindo testes avançados de boundary scan que vão além dos testes estruturais típicos e aumentando significativamente a cobertura de teste em placas de circuito impresso (PCB). A nova versão — o x1149 Boundary Scan Analyzer Tester 2.0 — oferece a mais recente arquitetura de boundary scan para ferramentas de depuração e análise no chip, a fim de identificar e resolver defeitos em circuitos integrados (IC) complexos que contêm múltiplas propriedades intelectuais e chips.
Utilizando a norma IEEE 1149.1-2013, o Analisador de Boundary Scan x1149 oferece a capacidade de rastrear os números de série de cada circuito integrado (IC) para garantir a rastreabilidade dos componentes e a proteção contra falsificações, por meio do recurso de Identificação Eletrônica de Chips (ECID). Além disso, o x1146 permite que os projetistas garantam o funcionamento ideal de seus ICs, possibilitando-lhes testar o desempenho, a confiabilidade e a funcionalidade de ICs de missão crítica em condições reais de operação por meio do Autoteste Integrado (Built-In Self Test).
“Os circuitos integrados (ICs) em conformidade com as novas normas IEEE 1149.1-2013 já começaram a ser comercializados”, afirmou Adrian Cheong, gerente de gestão de produtos do Grupo de Soluções Eletrônicas Industriais da Keysight. “Com o x1149, os fabricantes agora podem testar placas de circuito impresso (PCBs) montadas com esses circuitos integrados. Ao utilizar métodos de teste boundary scan, os pontos de teste conectados a esses circuitos integrados podem ser removidos, economizando espaço nas PCBs atuais, que são menores, mas mantendo a cobertura de teste e, consequentemente, garantindo a qualidade dos produtos finais.”
Ao utilizar a nova versão do x1149 com suporte à norma IEEE 1149.1-2013, os engenheiros de projeto podem esperar um aumento de cerca de 75% na cobertura de testes, com os seguintes recursos de teste:
- Mnemônico de registro
- Controle de reinicialização do IC
- Mecanismo de inicialização de componentes
- Registro de varredura de limite segmentado
- Suporte a domínios de potência
- Persistência no modo de teste
- Identificação por Chip Eletrônico (ECID)
- Linguagem de Descrição de Procedimentos (PDL)
O testador e analisador de Boundary Scan Keysight x1149 2.0 já está disponível em todo o mundo. Para mais informações, acesse www.keysight.com/find/x1149.