如何驗證 GDDR7 發射器的合規性

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驗證 PAM3 訊號完整性以符合 JEDEC GDDR7 發射端規範

對於人工智慧（AI）加速器、圖形處理器（GPU）以及高效能運算系統而言，GDDR7 傳輸器合規性測試正變得日益艱鉅，因為在這些系統中，更高的記憶體頻寬對整體系統效能至關重要。相較於前幾代記憶體，轉向脈衝振幅調變 3 級（PAM3）訊號傳輸，以及每針腳高達 48 Gb/s 的資料傳輸速率，顯著降低了電壓與時序餘裕。 多級訊號傳輸會產生多個「眼圖」開口，這些開口都必須符合嚴格的合規限制；同時，通道損耗、串擾以及供電雜訊會進一步削弱訊號完整性。因此，即使是微小的干擾也可能導致合規測試失敗，使得發射器的驗證難以達到精確且可重複的標準。

工程師必須使用高頻寬示波器（通常至少 50 GHz），才能在最高資料傳輸速率下全面覆蓋裝置與系統的合規性測試；同時需搭配支援 PAM 的分析軟體及低負載探針解決方案，以精確擷取這些訊號。該測試系統可執行符合 JEDEC GDDR7 合規規格的眼圖分析、抖動分解及眼圖遮罩測試，並透過時鐘恢復與參考均衡技術，確保測試結果的一致性。 自動化工作流程可跨多條通道及多種運作條件進行配置、擷取與分析，確保所有 PAM3 眼圖開口的驗證結果可重複，並能高效地評估發射端餘量與合規性能。

GDDR7 傳輸器符合性測試解決方案

GDDR7 發射端合規性驗證需要在電壓與時序餘裕縮減的情況下，對資料傳輸速率接近 40 至 46 Gb/s 的多階 PAM3 訊號進行精確特性分析。 是德科技的 GDDR7 發射器合規性解決方案包含一台 59 GHz、4 通道的 Pro 示波器，以及用於 PAM-N 分析與自動化 GDDR7 發射器合規性測試的軟體，可實現高保真度擷取、眼圖分析、抖動測量，以及符合 JEDEC 標準的遮罩測試。 該解決方案提供可重複且符合標準的測試結果，並具備整合式報告功能，讓工程師能夠高效驗證發射器性能、識別餘量限制，並確保在各種運作條件下均符合規範。
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