如何驗證 GDDR7 發射器的合規性

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驗證 JEDEC GDDR7 發射器相符性的 PAM3 訊號完整性

對於人工智慧 (AI) 加速器、圖形處理單元 (GPU) 和高效能運算系統而言，GDDR7 發射器相符性測試的挑戰日益嚴峻，因為更高的記憶體頻寬對整體系統效能至關重要。與前幾代記憶體相比，轉換為脈衝振幅調變 3 級 (PAM3) 訊號傳輸和每接腳高達 48 Gb/s 的資料速率，顯著降低了電壓和時序裕度。多位準訊號傳輸會產生多個眼圖開口，這些開口都必須符合嚴格的相符性限制，而通道損耗、串擾和電源傳輸雜訊則會進一步降低訊號完整性。因此，微小的缺陷都可能導致相符性測試失敗，使得準確且可重複的發射器驗證變得困難。

工程師必須使用高頻寬示波器（通常至少 50 GHz，以在最大資料速率下實現完整的裝置和系統相符性涵蓋範圍），搭配支援 PAM 的分析軟體和低負載探測解決方案，才能準確擷取這些訊號。測試系統會執行符合 JEDEC GDDR7 相符性規範的眼圖分析、抖動分解和眼罩測試，同時應用時脈恢復和參考等化以獲得一致的結果。自動化工作流程可實現跨多個通道和操作條件的配置、擷取和分析，確保所有 PAM3 眼圖開口的重複驗證，並實現發射器裕度和相符性效能的有效特性分析。

GDDR7 傳輸器符合性測試解決方案

GDDR7 發射器相符性驗證需要在資料速率接近 40 至 46 Gb/s 的情況下，對電壓和時序裕度降低的多位準 PAM3 訊號進行精確的特性分析。Keysight 的 GDDR7 發射器相符性解決方案包含一台 59 GHz、4 通道旗艦示波器，以及用於 PAM-N 分析和自動化 GDDR7 發射器相符性測試的軟體，可實現高傳真擷取、眼圖分析、抖動量測和符合 JEDEC 的遮罩測試。此解決方案提供可重複、基於標準的結果，並整合報告功能，讓工程師能夠有效驗證發射器效能、識別裕度限制，並確保跨操作條件的相符性。
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