如何驗證電氣評估板的性能

+ 功能性 互連測試解決方案

驗證評估板的錯誤表現

要驗證電氣評估板，工程師必須讓高速流量通過完整的接收至傳輸路徑，同時確保能清楚監控每條已配置的通道。隨著 PAM4 通道速率提高，若僅逐一測試單一通道，可能會掩蓋通道間的差異，並使工程師難以在一致的條件下比較整個裝置的運作行為。工程師需要一種可重複的方法，用以產生偽隨機二進位序列四進位（PRBSQ）流量、將迴路訊號導向透過主動或被動的受測裝置，並同時測量多個通道的位元錯誤率（BER）表現。該測試架構還應支援不同的通道映射、訊號速率、迴路配置及測試時長，以便工程師能在具代表性的運作條件下評估該板卡，而無需針對每種情境重新建立測試方法。

當工程師能在相同的測試條件下，比較每個活躍通道的位元誤碼率（BER）與前向錯誤校正（FEC）行為時，多通道驗證便能發揮更大的實用價值。按通道分開的測試結果有助於揭示各通道間的差異，這些差異可能源自裝置、電路板佈線、連接器實作或測試配置。工程師可在進行重複或長時間測試時，透過監控性能，並結合 FEC 前 BER、FEC 後 BER、FEC 開銷、FEC 餘裕以及符號錯誤統計數據，進一步擴展分析範圍。儲存的配置與結果資料，也讓工程師在電路板修訂、韌體更新或裝置更換後，能更輕鬆地重複進行測量。透過整合模式產生、迴路測試控制、多通道錯誤分析以及可重複的結果擷取功能，工程團隊得以在進入更廣泛的系統級驗證之前，採用一致的方法來評估電氣評估板。

電子評估板驗證解決方案

驗證電氣評估板需要協調多通道流量產生、迴路控制，以及跨主動或被動元件的錯誤分析。是德科技的功能互連測試解決方案 (FITS-8CH) 提供八個發射與八個接收差分通道，可同時進行 PAM4 錯誤與性能驗證。工程師可在單一測試環境中產生 PRBSQ 流量、配置通道映射與迴路路徑，並測量各通道的 BER 及 FEC 性能。高驅動通道可支援損耗較高的測試路徑，而晶片至模組通道則支援標準乙太網路訊號電平。工程師還可定義測試時長、即時監控結果，並評估 FEC 前 BER、FEC 後 BER、FEC 餘量、FEC 開銷以及符號錯誤統計資料。可重複使用的配置以及 PDF 或 CSV 報告格式，支援在不同電路板版本、被測裝置 (DUT) 變更及驗證週期間進行可重複的比較。該解決方案整合了多通道流量產生、迴路測試、錯誤分析及報告功能，以實現一致的電氣評估電路板性能驗證。

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