Come verificare le prestazioni di una scheda di valutazione elettrica

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Verifica delle prestazioni in caso di errore della scheda di valutazione

La validazione di una scheda di valutazione elettrica richiede agli ingegneri di far transitare traffico ad alta velocità lungo l’intero percorso dalla ricezione alla trasmissione, mantenendo al contempo la visibilità su ciascuna corsia configurata. Con l’aumentare delle velocità delle corsie PAM4, testare un canale alla volta può nascondere le differenze tra i canali e rendere più difficile confrontare il comportamento dell’intero dispositivo in condizioni costanti. Gli ingegneri necessitano di un metodo ripetibile per generare traffico PRBSQ (Pseudo-Random Binary Sequence Quaternary), instradare i loopback attraverso un dispositivo in prova, sia esso attivo o passivo, e misurare simultaneamente le prestazioni relative al tasso di errore binario (BER) su più lane. La configurazione dovrebbe inoltre supportare diverse mappature delle lane, velocità di segnalazione, configurazioni di loopback e durate dei test, in modo che gli ingegneri possano valutare la scheda in condizioni operative rappresentative senza dover ricostruire la metodologia di test per ogni singolo scenario.

La validazione multilinea diventa più utile quando gli ingegneri possono confrontare il BER e il comportamento della correzione degli errori in avanti (FEC) su ogni canale attivo nelle stesse condizioni di test. I risultati per singola linea aiutano a rivelare le variazioni da canale a canale che possono derivare dal dispositivo, dall’interconnessione della scheda, dall’implementazione dei connettori o dalla configurazione di test. Gli ingegneri possono ampliare l’analisi con il BER pre-FEC, il BER post-FEC, l’overhead FEC, il margine FEC e le statistiche sugli errori dei simboli, monitorando al contempo le prestazioni durante test ripetuti o di lunga durata. Le configurazioni salvate e i dati dei risultati facilitano inoltre la ripetizione delle misurazioni in seguito a revisioni della scheda, aggiornamenti del firmware o sostituzioni dei dispositivi. La combinazione di generazione di pattern, controllo loopback, analisi degli errori su più lane e acquisizione ripetibile dei risultati offre ai team di ingegneri un metodo coerente per valutare le schede di valutazione elettriche prima di passare a una validazione più ampia a livello di sistema.

Soluzione per la validazione delle schede di valutazione elettriche

La validazione di una scheda di valutazione elettrica richiede la generazione coordinata di traffico su più lane, il controllo loopback e l’analisi degli errori su dispositivi attivi o passivi. La soluzione Functional Interconnect Test Solutions (FITS-8CH) di Keysight offre otto canali differenziali di trasmissione e otto di ricezione per la validazione simultanea delle prestazioni e degli errori PAM4. Gli ingegneri possono generare traffico PRBSQ, configurare le mappature delle lane e i percorsi di loopback, nonché misurare il BER e le prestazioni FEC per ciascuna lane all’interno di un unico ambiente di test. I canali ad alta potenza supportano percorsi di test con perdite più elevate, mentre i canali chip-to-module supportano i livelli di segnale Ethernet standard. Gli ingegneri possono inoltre definire la durata del test, monitorare i risultati in tempo reale e valutare il BER pre-FEC, il BER post-FEC, il margine FEC, l’overhead FEC e le statistiche sugli errori di simbolo. Le configurazioni riutilizzabili e la generazione di report in formato PDF o CSV consentono confronti ripetibili tra diverse revisioni delle schede, modifiche al dispositivo in prova (DUT) e cicli di validazione. La soluzione integra la generazione di traffico multilane, i test di loopback, l’analisi degli errori e la generazione di report per una validazione coerente delle prestazioni delle schede di valutazione elettriche.

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