電気評価ボードの性能を検証する方法

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評価ボードのエラー動作の検証

電気評価ボードの検証を行うには、エンジニアは、構成された各レーンの可視性を維持しつつ、受信から送信に至る全経路を通じて高速トラフィックを流す必要があります。PAM4のレーンレートが上昇するにつれ、1つのチャネルずつテストを行うと、チャネル間の差異が見えにくくなり、一貫した条件下でデバイス全体の挙動を比較することが困難になります。 エンジニアには、擬似ランダム二進四値シーケンス（PRBSQ）トラフィックを生成し、アクティブまたはパッシブな被試験デバイス（DUT）を経由してループバックをルーティングし、複数のレーンにわたるビット誤り率（BER）性能を同時に測定できる、再現性のある方法が必要です。また、このセットアップは、さまざまなレーンマッピング、信号伝送レート、ループバック構成、およびテスト時間をサポートしている必要があります。そうすることで、エンジニアは、シナリオごとにテスト手法を再構築することなく、代表的な動作条件下でボードを評価できるようになります。

エンジニアが、同一の試験条件下で、すべてのアクティブなチャネルにわたるBERおよび前方誤り訂正（FEC）の挙動を比較できる場合、マルチレーン検証の有用性はさらに高まります。レーンごとの結果は、デバイス、基板の配線、コネクタの実装、あるいは試験構成に起因する可能性のあるチャネル間のばらつきを明らかにするのに役立ちます。 エンジニアは、反復試験や長時間試験中のパフォーマンスを監視しながら、FEC前BER、FEC後BER、FECオーバーヘッド、FECマージン、およびシンボルエラー統計を用いて分析を拡張することができます。 また、設定や結果データを保存しておけば、基板の改訂、ファームウェアの更新、またはデバイスの変更後に測定を容易に繰り返すことができます。パターン生成、ループバック制御、マルチレーンエラー解析、および再現性のある結果の取得を組み合わせることで、エンジニアリングチームは、より広範なシステムレベルの検証に移行する前に、電気評価ボードを評価するための一貫した手法を得ることができます。

電気評価ボードの検証ソリューション

電気評価ボードの検証には、アクティブデバイスやパッシブデバイスにわたる、マルチレーン・トラフィック生成、ループバック制御、およびエラー解析の連携が必要です。キーサイトの機能相互接続テストソリューション（FITS-8CH）は、PAM4のエラー・パフォーマンスを同時に検証するための8つの送信チャネルと8つの受信差動チャネルを提供します。エンジニアは、単一のテスト環境内でPRBSQトラフィックを生成し、レーンマッピングやループバックパスを設定し、レーンごとのBERおよびFECパフォーマンスを測定することができます。 ハイドライブ・チャネルは損失の大きいテストパスをサポートし、チップ・トゥ・モジュール・チャネルは標準的なイーサネット信号レベルをサポートします。 また、エンジニアはテスト時間を定義し、結果をリアルタイムで監視し、FEC前BER、FEC後BER、FECマージン、FECオーバーヘッド、およびシンボルエラー統計を評価できます。再利用可能な設定とPDFまたはCSV形式のレポート機能により、基板の改訂、DUTの変更、および検証サイクルにわたる再現性のある比較が可能になります。このソリューションは、マルチレーントラフィック生成、ループバックテスト、エラー解析、およびレポート機能を統合し、一貫した電気評価ボードの性能検証を実現します。
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