전기 평가 보드의 성능을 검증하는 방법

+ 기능적 상호 연결 테스트 솔루션

평가 보드 오류 성능 검증

전기적 평가 보드를 검증하려면 엔지니어가 설정된 각 레인에 대한 가시성을 유지하면서 전체 수신-송신 경로를 통해 고속 트래픽을 구동해야 합니다. PAM4 레인 속도가 증가함에 따라 한 번에 하나의 채널을 테스트하면 채널 간 차이가 가려져 일관된 조건에서 전체 디바이스의 거동을 비교하기가 더 어려워질 수 있습니다. 엔지니어는 PRBSQ(Pseudo-Random Binary Sequence Quaternary) 트래픽을 생성하고, 활성 또는 수동 피시험 장치를 통해 루프백을 라우팅하며, 여러 레인에서 동시에 BER(Bit Error Ratio) 성능을 측정할 수 있는 반복 가능한 방법이 필요합니다. 또한 이 설정은 모든 시나리오에 대해 테스트 방법을 다시 빌드하지 않고도 엔지니어가 대표적인 작동 조건에서 보드를 평가할 수 있도록 다양한 레인 매핑, 시그널링 속도, 루프백 구성 및 테스트 지속 시간을 지원해야 합니다.

다중 레인 검증은 엔지니어가 동일한 테스트 조건에서 모든 활성 채널의 BER 및 FEC(Forward Error Correction) 거동을 비교할 수 있을 때 더욱 유용합니다. 레인별 결과는 디바이스, 보드 라우팅, 커넥터 구현 또는 테스트 구성에서 비롯될 수 있는 채널 간 변동을 파악하는 데 도움이 됩니다. 엔지니어는 반복 테스트 또는 장시간 테스트 중에 성능을 모니터링하면서 사전 FEC BER, 사후 FEC BER, FEC 오버헤드, FEC 마진 및 심볼 오류 통계로 분석을 확장할 수 있습니다. 또한 저장된 구성과 결과 데이터를 사용하면 보드 리비전, 펌웨어 업데이트 또는 디바이스 변경 후 측정을 더 쉽게 반복할 수 있습니다. 패턴 생성, 루프백 제어, 다중 레인 오류 분석 및 반복 가능한 결과 캡처를 결합하면 엔지니어링 팀에 더 넓은 시스템 수준 검증으로 넘어가기 전에 전기적 평가 보드를 평가할 수 있는 일관된 방법이 제공됩니다.

전기 평가 보드 검증 솔루션

전기적 평가 보드를 검증하려면 활성 또는 수동 디바이스에서 조율된 다중 레인 트래픽 생성, 루프백 제어 및 오류 분석이 필요합니다. 키사이트의 기능적 상호 연결 테스트 솔루션(FITS-8CH)은 동시 PAM4 오류 성능 검증을 위한 8개의 송신 및 8개의 수신 차동 채널을 제공합니다. 엔지니어는 단일 테스트 환경 내에서 PRBSQ 트래픽을 생성하고, 레인 매핑 및 루프백 경로를 구성하며, 레인별 BER 및 FEC 성능을 측정할 수 있습니다. High Drive 채널은 더 높은 손실의 테스트 경로를 지원하고, Chip-to-Module 채널은 표준 이더넷 신호 레벨을 지원합니다. 또한 엔지니어는 테스트 지속 시간을 정의하고, 실시간으로 결과를 모니터링하며, 사전 FEC BER, 사후 FEC BER, FEC 마진, FEC 오버헤드 및 심볼 오류 통계를 평가할 수 있습니다. 재사용 가능한구성과 PDF 또는 CSV 리포팅은 보드 리비전, DUT 변경 및 검증 주기 전반에 걸쳐 반복 가능한 비교를 지원합니다. 이 솔루션은 다중 레인 트래픽 생성, 루프백 테스트, 오류 분석 및 리포팅을 결합하여 일관된 전기적 평가 보드 성능 검증을 제공합니다.

견적 받기