전기 평가 보드의 성능을 검증하는 방법

+ 기능적 상호연결 테스트 솔루션

평가 보드의 오류 처리 성능 검증

전기 평가 보드를 검증하려면 엔지니어들은 구성된 각 레인에 대한 가시성을 유지하면서 수신에서 전송에 이르는 전체 경로를 통해 고속 트래픽을 전송해야 합니다. PAM4 레인 속도가 증가함에 따라, 채널을 한 번에 하나씩 테스트하면 채널 간 차이가 드러나지 않을 수 있으며, 일관된 조건에서 전체 장치의 동작을 비교하기가 더 어려워집니다. 엔지니어들은 의사난수 이진 4진 시퀀스(PRBSQ) 트래픽을 생성하고, 활성 또는 수동 피시험 장치를 통해 루프백을 라우팅하며, 여러 레인에 걸쳐 비트 오류율(BER) 성능을 동시에 측정할 수 있는 재현 가능한 방법이 필요합니다. 또한 이 설정은 다양한 레인 매핑, 신호 전송 속도, 루프백 구성 및 테스트 시간을 지원해야 하며, 이를 통해 엔지니어들은 모든 시나리오마다 테스트 방법론을 재구축할 필요 없이 대표적인 작동 조건에서 보드를 평가할 수 있어야 합니다.

엔지니어들이 동일한 테스트 조건 하에서 모든 활성 채널에 걸쳐 BER 및 전방 오류 정정(FEC) 동작을 비교할 수 있을 때, 다중 레인 검증의 유용성이 더욱 높아집니다. 레인별 결과는 디바이스, 기판 배선, 커넥터 구현 또는 테스트 구성에서 비롯될 수 있는 채널 간 차이를 파악하는 데 도움이 됩니다. 엔지니어들은 반복적이거나 장시간 진행되는 테스트 중 성능을 모니터링하면서, FEC 전 BER, FEC 후 BER, FEC 오버헤드, FEC 마진 및 심볼 오류 통계를 활용하여 분석을 확장할 수 있습니다. 또한 저장된 구성 및 결과 데이터를 활용하면 보드 수정, 펌웨어 업데이트 또는 장치 변경 후에도 측정을 더 쉽게 반복할 수 있습니다. 패턴 생성, 루프백 제어, 다중 레인 오류 분석 및 반복 가능한 결과 캡처를 결합함으로써 엔지니어링 팀은 더 광범위한 시스템 수준 검증 단계로 넘어가기 전에 전기 평가 보드를 평가할 수 있는 일관된 방법을 확보하게 됩니다.

전기 평가 보드 검증 솔루션

전기 평가 보드를 검증하려면 능동 또는 수동 소자 전반에 걸쳐 다중 레인 트래픽 생성, 루프백 제어 및 오류 분석을 조화롭게 수행해야 합니다. 키사이트의 기능적 상호 연결 테스트 솔루션(FITS-8CH)은 PAM4 오류 및 성능 동시 검증을 위해 8개의 송신 및 8개의 수신 차동 채널을 제공합니다. 엔지니어는 단일 테스트 환경 내에서 PRBSQ 트래픽을 생성하고, 레인 매핑 및 루프백 경로를 구성하며, 레인별 BER 및 FEC 성능을 측정할 수 있습니다. 하이 드라이브(High Drive) 채널은 손실이 더 큰 테스트 경로를 지원하며, 칩-투-모듈(Chip-to-Module) 채널은 표준 이더넷 신호 레벨을 지원합니다. 또한 엔지니어는 테스트 기간을 정의하고, 결과를 실시간으로 모니터링하며, FEC 전 BER, FEC 후 BER, FEC 마진, FEC 오버헤드 및 심볼 오류 통계를 평가할 수 있습니다. 재사용 가능한 구성과 PDF 또는 CSV 보고 기능을 통해 보드 개정판, DUT 변경 및 검증 주기 전반에 걸쳐 반복 가능한 비교가 가능합니다. 이 솔루션은 멀티 레인 트래픽 생성, 루프백 테스트, 오류 분석 및 보고 기능을 통합하여 일관된 전기 평가 보드 성능 검증을 제공합니다.

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