1.6T光トランシーバの検証方法

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光トランシーバのエラー性能に関するベンチマーク

完全にリタイミング処理された1.6T光トランシーバーの検証を行うには、エンジニアは、電気ホストインターフェースから光送信機および受信機に至るまでの信号経路全体にわたって、エラー性能を評価する必要があります。テストでは、設定された光経路およびモジュールの動作条件を維持しつつ、すべての電気レーンを動作させる必要があります。 エンジニアは、擬似ランダム二進列Q（PRBSQ）パターンを使用してトランシーバーを駆動し、各レーンにおけるビット誤り率（BER）を測定することで、エンドツーエンドの性能を一貫して把握することができます。また、テスト環境は、共通管理インターフェース仕様（CMIS）を介したモジュールの設定および監視をサポートしている必要があり、これによりエンジニアは、測定全体を通じてサポートされている機能を制御し、モジュールの状態を監視することが可能になります。 トランシーバーを完全なアセンブリとして動作させることで、電気インターフェースや光インターフェースを個別に評価した場合には現れない、レーン固有の挙動を明らかにすることができます。

より詳細な検証を行うため、エンジニアは、繰り返しまたは長時間のテスト実行中に、すべてのレーンにわたってBERと前方誤り訂正（FEC）の性能を同時に監視することができます。レーンごとの結果は性能の違いを特定するのに役立ち、FECの統計情報は、単一のBER測定だけでは得られないエラー挙動に関するさらなる知見を提供します。エンジニアは、テスト時間を制御し、合格/不合格基準を適用し、保存された設定を使用して測定を繰り返すことで、デバイスや動作条件を一貫して比較することができます。 リアルタイムのグラフやレーンごとの結果により、各インターフェースを独立した測定として扱うのではなく、トランシーバー全体の性能を容易に確認できます。また、パターン生成、エラー検出、モジュール制御、結果の取得を同一のテスト環境内で行うことで、テスト実行間の手動による変更を削減し、検証サイクル全体を通じて1.6T光トランシーバーのエラー性能をベンチマークするための再現性のある手法を提供します。

1.6T 光トランシーバー検証ソリューション

完全にリタイミング処理された1.6T光トランシーバーの検証には、電気信号から光信号への完全な信号経路を動作させながら、すべての電気レーンにわたってパターン生成とエラー測定を同時に行う必要があります。キーサイトの機能インターコネクト・テスト・ソリューション（FITS-8CH）は、マルチレーンのBERおよびFEC性能検証のために、8つの独立した送受信チャネルを提供します。 エンジニアは、トランシーバーを完全なアセンブリとしてテストしながら、PRBSQパターンを生成し、レーンごとのBERを測定し、FEC統計情報を監視することができます。CMISプログラミングおよびデジタル光モニタリングにより、テスト中のモジュールの設定やステータス監視が可能になります。 また、エンジニアは長時間測定を実行したり、ユーザー定義の合格/不合格閾値を適用したり、リアルタイムのグラフを確認したり、再現性のあるテストのために設定を保存したりすることができます。PDFおよびCSV形式のレポート機能により、デバイス間やテスト実行間の比較および文書化が可能になります。マルチレーン・トラフィック生成、エラー検出、FEC解析、モジュール制御、およびレポート機能を組み合わせることで、このソリューションは1.6T光トランシーバーの性能ベンチマークを行うための一貫した環境を提供します。
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