如何測試射頻增益壓縮

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射頻增益壓縮測試

射頻增益壓縮測試需要一個受控信源、一個待測裝置或信號路徑，以及一條經校準的輸出測量路徑。類比信號發生器會施加連續波激勵，同時將輸入功率在工作範圍內分級調整，從而能在每個電平下測量輸出響應。

此測試的運作原理是將測得的輸出功率與預期的線性增益響應進行比較。當放大器或射頻路徑趨近壓縮狀態時，輸出功率的增長速率將不再與輸入功率的增長速率保持一致，藉此讓工程師能夠識別壓縮區域及 1 dB 壓縮點。

射頻增益壓縮測試解決方案

增益壓縮測試需要一種可控的射頻激勵信號，該信號能在維持穩定頻率與訊號品質的同時，逐步調整輸入功率。透過緊湊型類比訊號產生器，可驅動放大器或射頻訊號路徑，使其穿越線性與壓縮工作區域。是德科技的類比訊號產生器支援射頻裝置測試，包括增益與增益壓縮特性分析，具備快速頻率與振幅切換、高輸出功率及低相位雜訊等特點。這些功能可支援可重複的輸入功率掃描，適用於工程驗證及以製造為導向的射頻測試。
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