RFゲイン圧縮のテスト方法

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RF利得圧縮テスト

RF利得圧縮テストには、制御された信号源、テスト対象のデバイスまたは信号パス、および校正された出力測定パスが必要です。アナログ信号ジェネレータが連続波刺激を印加する一方で、入力パワーを動作範囲全体にわたってステップ状に変化させ、各レベルでの出力応答を測定できるようにします。

このテストは、測定された出力パワーと、期待される線形利得応答を比較することで機能します。アンプまたはRFパスが圧縮に近づくにつれて、出力パワーは入力パワーと同じ割合では増加しなくなり、エンジニアは圧縮領域および1 dB圧縮点を特定できるようになります。

RFゲイン圧縮試験ソリューション

利得圧縮テストには、安定した周波数と信号品質を維持しながら入力パワーをステップ状に変化させることができる、制御されたRF刺激が必要です。コンパクトなアナログ信号発生器を使用して、アンプまたはRF信号パスをその線形および圧縮動作領域全体にわたって駆動します。Keysightのアナログ信号ジェネレータは、高速な周波数および振幅切り替え、高出力パワー、低位相雑音を備え、利得および利得圧縮のキャラクタリゼーションを含むRFデバイステストをサポートします。これらの機能により、エンジニアリング検証や製造志向のRFテストに向けた再現性のある入力パワースイープがサポートされます。
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