アナログ信号発生器
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RFゲイン圧縮試験

RFゲイン圧縮試験には、制御された信号源、被試験デバイスまたは信号経路、および校正済みの出力測定経路が必要です。アナログ信号発生器は、入力電力を動作範囲にわたって段階的に変化させながら連続波の刺激信号を印加し、各レベルにおける出力応答を測定できるようにします。

この試験では、測定された出力電力を、想定される線形利得特性と比較することで評価を行います。増幅器やRF経路が圧縮状態に近づくにつれて、出力電力は入力電力と同じ割合で増加しなくなるため、技術者は圧縮領域や1 dB圧縮点を特定することができます。

RFゲイン圧縮試験ソリューション

ゲイン圧縮試験には、周波数と信号品質を安定に保ちながら入力電力を段階的に変化させることができる、制御されたRF刺激信号が必要です。コンパクトなアナログ信号発生器を使用することで、増幅器やRF信号経路をその線形領域および圧縮領域にわたって駆動することができます。キーサイトのアナログ信号発生器は、高速な周波数および振幅切り替え、高出力、低位相ノイズを備えており、ゲインおよびゲイン圧縮特性評価を含むRFデバイスの試験に対応しています。これらの機能により、エンジニアリング検証や製造向けのRF試験において、再現性の高い入力電力スイープが可能になります。

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RFゲイン圧縮のテスト方法 ブロック図

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