如何測試 LPDDR6 發射器的合規性

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驗證低功耗記憶體系統的 LPDDR6 發射器

隨著 AI 工作負載不斷擴展，LPDDR6 記憶體介面必須提供更高的頻寬，同時在比前幾代產品更低的電壓和更嚴格的時序裕度下運作。這些條件會增加發射器對抖動、符號間干擾和電源雜訊的敏感度，使得在目標資料速率下保持符合規範的眼圖開口變得更加困難。此外，LPDDR6 的架構變更，例如更寬的資料路徑和雙子通道，帶來了新的信號完整性挑戰，這些挑戰必須在電壓、製程和溫度極限條件下進行驗證。

LPDDR6 發射器一致性測試評估發射信號是否符合 JEDEC 定義的電氣要求，包括在實際負載和通道條件下的眼圖開口、時序和電壓。工程師必須在實體層測量眼圖、抖動分量、上升和下降時間、電壓位準和遮罩裕度。這些測試需要頻寬大於 25 GHz 的低雜訊示波器、高效能探測以及自動化分析軟體，以確保可重複、符合標準的結果，同時將測量不確定性降至最低。

LPDDR6 發射端符合性測試解決方案

LPDDR6 發射器一致性測試需要精確的波形擷取和自動化的眼圖測量，以驗證高資料速率下的信號完整性和時序裕度。Keysight 的 LPDDR6 發射器一致性測試解決方案結合了高頻寬的旗艦示波器和自動化一致性軟體，以執行眼圖分析、抖動特性分析和遮罩測試。這種方法可降低設定複雜度、提高測量重複性，並使工程師能夠在設計和系統驗證的整個過程中有效驗證 LPDDR6 發射器效能。
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