LPDDR6 송신기 규격 준수 여부 테스트 방법

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저전력 메모리 시스템용 LPDDR6 송신기 검증

AI 워크로드가 확장됨에 따라 LPDDR6 메모리 인터페이스는 이전 세대보다 더 낮은 전압에서 작동하고 더 엄격한 타이밍 마진을 가지면서 더 높은 대역폭을 제공해야 합니다. 이러한 조건은 지터, 심볼 간 간섭 및 전원 공급 노이즈에 대한 송신기 민감도를 증가시켜 목표 데이터 속도에서 규격에 맞는 아이 오프닝을 유지하기 어렵게 만듭니다. 또한, 더 넓은 데이터 경로 및 듀얼 서브 채널과 같은 LPDDR6 아키텍처 변경 사항은 전압, 공정 및 온도 코너 전반에 걸쳐 검증되어야 하는 새로운 신호 무결성 문제를 야기합니다.

LPDDR6 송신기 컴플라이언스 테스트는 실제 부하 및 채널 조건에서 전송된 신호가 JEDEC에서 정의한 아이 오프닝, 타이밍 및 전압에 대한 전기적 요구 사항을 충족하는지 평가합니다. 엔지니어는 물리 계층에서 아이 다이어그램, 지터 구성 요소, 상승 및 하강 시간, 전압 레벨 및 마스크 마진을 측정해야 합니다. 이러한 테스트에는 25GHz 이상의 대역폭을 가진 저노이즈 오실로스코프, 고성능 프로빙 및 자동화된 분석 소프트웨어가 필요하며, 이는 측정 불확실성을 최소화하면서 반복 가능하고 표준에 부합하는 결과를 보장합니다.

LPDDR6 송신기 적합성 테스트 솔루션

LPDDR6 송신기 컴플라이언스 테스트는 높은 데이터 속도에서 신호 무결성 및 타이밍 마진을 검증하기 위해 정밀한 파형 캡처와 자동화된 아이 기반 측정을 필요로 합니다. 키사이트의 LPDDR6 송신기 컴플라이언스 테스트 솔루션은 고대역폭 Pro 오실로스코프와 자동화된 컴플라이언스 소프트웨어를 결합하여 아이 다이어그램 분석, 지터 특성화 및 마스크 테스트를 수행합니다. 이 접근 방식은 설정 복잡성을 줄이고 측정 반복성을 향상시키며, 엔지니어가 설계 및 시스템 검증 전반에 걸쳐 LPDDR6 송신기 성능을 효율적으로 검증할 수 있도록 합니다.
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