Come verificare la conformità del trasmettitore LPDDR6

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Convalida dei trasmettitori LPDDR6 per sistemi di memoria a basso consumo

Con l'aumentare dei carichi di lavoro dell'IA, le interfacce di memoria LPDDR6 devono garantire una larghezza di banda maggiore, pur funzionando a tensioni inferiori e con margini temporali più ristretti rispetto alle generazioni precedenti. Queste condizioni aumentano la sensibilità del trasmettitore al jitter, all'interferenza intersimbolica e al rumore dell'alimentazione, rendendo più difficile mantenere aperture dell'occhio conformi alle velocità di trasmissione target. Inoltre, le modifiche architetturali dell'LPDDR6, quali percorsi dati più ampi e sottocanali duali, introducono nuove sfide relative all'integrità del segnale che devono essere validate in tutti i casi limite di tensione, processo e temperatura.

I test di conformità del trasmettitore LPDDR6 valutano se i segnali trasmessi soddisfano i requisiti elettrici definiti dallo standard JEDEC in termini di apertura dell'occhio, temporizzazione e tensione in condizioni realistiche di carico e di canale. Gli ingegneri devono misurare i diagrammi a occhio, le componenti di jitter, i tempi di salita e discesa, i livelli di tensione e i margini di maschera a livello del livello fisico. Questi test richiedono oscilloscopi a basso rumore con larghezza di banda superiore a 25 GHz, sondaggio ad alte prestazioni e software di analisi automatizzata per garantire risultati ripetibili e conformi agli standard, riducendo al minimo l'incertezza di misura.

Soluzione per il test di conformità dei trasmettitori LPDDR6

I test di conformità dei trasmettitori LPDDR6 richiedono un'acquisizione precisa delle forme d'onda e misurazioni automatizzate basate sul diagramma a occhio per verificare l'integrità del segnale e il margine di temporizzazione a velocità di trasmissione elevate. La soluzione di Keysight per i test di conformità dei trasmettitori LPDDR6 combina oscilloscopi Pro ad ampia larghezza di banda con un software di conformità automatizzato per eseguire l'analisi del diagramma a occhio, la caratterizzazione del jitter e i test di maschera. Questo approccio riduce la complessità della configurazione, migliora la ripetibilità delle misurazioni e consente agli ingegneri di verificare in modo efficiente le prestazioni dei trasmettitori LPDDR6 durante tutte le fasi di progettazione e validazione del sistema.
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