如何執行 VCSEL LIV 測試

模組化源量測單元
+ 模組化源量測單元

執行 VCSEL LIV 量測測試

光電流電壓 (LIV) 測試常用作垂直腔面發射雷射 (VCSEL) 的特性分析方法,因為它能捕捉光輸出功率和順向電壓如何隨著驅動電流掃描而變化。LIV 測試設定必須支援窄脈衝電流源、同步電壓量測和光電二極體電流擷取,以捕捉發射光與電氣行為之間的交互作用。

此量測技術涉及產生短電流脈衝以最大程度地減少自熱效應、透過高速取樣擷取暫態響應,並同步多個通道以對準雷射二極體和光電二極體量測。準確的結果取決於適當的時序控制、低電感纜線和高頻寬量測路徑,以觀察脈衝操作期間的動態行為。

VCSEL LIV 測試與量測解決方案

LIV 測試需要產生窄電流脈衝,同時同步多個量測通道以準確擷取電氣和光學響應。此解決方案整合了一個高通道密度源量測單元 (SMU) 平台,能夠進行脈衝電流源和高速數位化。它支援具有小於 50 奈秒時序準確度的同步多通道量測,實現雷射二極體驅動與光電二極體響應之間的精確對準。該系統還整合了低電感纜線和遠端電壓量測,以減少纜線效應引起的誤差。憑藉高取樣率和緊湊的多通道整合,此解決方案可實現準確的動態特性分析和可擴展的並行測試。

探索我們的 VCSEL LIV 測試量測解決方案中的產品

相關應用案例

聯絡我們標誌

聯絡我們的一位專家

需要協助尋找適合您的解決方案嗎?