如何執行 VCSEL LIV 測試

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執行 VCSEL 光電轉換效率 (LIV) 測量測試

光-電流-電壓（LIV）測試常被用作垂直腔面發射雷射（VCSEL）的特性分析方法，因為它能捕捉光輸出功率與正向電壓隨驅動電流掃描而產生的變化。LIV 測試系統必須支援窄脈衝電流源、同步電壓測量以及光電二極體電流擷取功能，才能捕捉發射光與電學行為之間的相互作用。

該測量技術包含產生短暫的電流脈衝以將自熱效應降至最低、透過高速採樣捕捉瞬態響應，以及同步多個通道以使雷射二極體與光電二極體的測量結果保持一致。要獲得精確的結果，必須仰賴適當的時序控制、低電感線材，以及高頻寬的測量路徑，方能觀察到脈衝運作期間的動態行為。

VCSEL LIV 測試與量測解決方案

LIV 測試需要產生窄脈衝電流，同時同步多個測量通道，以精確捕捉電學與光學響應。此解決方案整合了高通道密度源量測單元 (SMU) 平台，具備脈衝電流源輸出與高速數位化能力。它支援同步多通道測量，時間精度低於 50 奈秒，可實現雷射二極體驅動與光電二極體響應之間的精確對齊。 該系統還採用低電感纜線及遠端電壓測量技術，以減少因纜線效應所導致的誤差。憑藉高採樣率與緊湊的多通道整合設計，此解決方案可實現精確的動態特性分析及可擴展的並行測試。
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