モジュラー型ソース・メジャ・ユニット
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VCSEL LIV測定テストを実施

光出力パワーと順方向電圧が駆動電流の掃引に伴ってどのように変化するかを捉えるため、光電流電圧(LIV)テストは、垂直共振器面発光レーザー(VCSEL)の特性評価手法としてよく用いられます。LIVテストセットアップは、発光と電気的挙動の相互作用を捉えるために、狭パルス電流供給、同時電圧測定、およびフォトダイオード電流取得をサポートする必要があります。

この測定手法では、自己発熱効果を最小限に抑えるために短い電流パルスを生成し、高速サンプリングで過渡応答を捕捉し、複数のチャネルを同期させてレーザーダイオードとフォトダイオードの測定を整合させます。正確な結果は、パルス動作中の動的挙動を観察するために、適切なタイミング制御、低インダクタンスのケーブル配線、および高帯域幅の測定経路に依存します。

VCSEL LIV試験測定ソリューション

LIVテストでは、電気的および光学的応答を正確に捕捉するために、複数の測定チャネルを同期させながら狭い電流パルスを生成する必要があります。このソリューションは、パルス電流供給と高速デジタイジングが可能な高チャネル密度ソース・メジャー・ユニット(SMU)プラットフォームを統合しています。サブ50 nsのタイミング精度で同期マルチチャネル測定をサポートし、レーザーダイオード駆動とフォトダイオード応答間の正確な整合を可能にします。また、このシステムは、ケーブル効果による誤差を低減するために、低インダクタンスのケーブル配線とリモート電圧測定を組み込んでいます。高いサンプリングレートとコンパクトなマルチチャネル統合により、このソリューションは正確な動的特性評価とスケーラブルな並列テストを可能にします。

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