Comment réaliser des tests de durée de vie (LIV) sur des VCSEL
Réaliser des tests de mesure de la durée de vie (LIV) des VCSEL
Les tests courant-lumière-tension (LIV) sont souvent utilisés comme méthode de caractérisation des lasers à cavité verticale à émission par la surface (VCSEL), car ils permettent d'observer l'évolution de la puissance de sortie optique et de la tension directe en fonction de la variation du courant d'excitation. Un banc d'essai LIV doit permettre de générer des impulsions de courant étroites, de mesurer simultanément la tension et d'acquérir le courant de la photodiode afin de saisir l'interaction entre la lumière émise et le comportement électrique.
Cette technique de mesure consiste à générer de courtes impulsions de courant afin de minimiser les effets d'auto-échauffement, à enregistrer les réponses transitoires grâce à un échantillonnage à haute vitesse et à synchroniser plusieurs canaux pour aligner les mesures de la diode laser et de la photodiode. L'obtention de résultats précis repose sur un contrôle précis de la synchronisation, un câblage à faible inductance et des voies de mesure à large bande passante permettant d'observer le comportement dynamique en mode pulsé.
Solution de mesure pour les tests VCSEL LIV
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PZ2100A Unité centrale SMU de précision haute densité (4 emplacements, 1U)
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Ressources supplémentaires pour la mesure du test LIV des VCSEL
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