Come eseguire i test VCSEL LIV

Preventivo
Unità modulare di misura e sorgente
+ Unità modulare di misura e sorgente
Unità modulare di misura e sorgente
+ Unità modulare di misura e sorgente

Eseguire i test di misurazione del LIV dei VCSEL

Il test LIV (Light-Current-Voltage) viene spesso utilizzato come metodo di caratterizzazione per i laser a emissione superficiale a cavità verticale (VCSEL), poiché consente di rilevare come la potenza di uscita ottica e la tensione diretta variano al variare della corrente di pilotaggio. Un sistema di test LIV deve supportare l'erogazione di correnti pulsate di ampiezza ridotta, la misurazione simultanea della tensione e l'acquisizione della corrente del fotodiodo, al fine di rilevare l'interazione tra la luce emessa e il comportamento elettrico.

La tecnica di misurazione prevede la generazione di brevi impulsi di corrente per ridurre al minimo gli effetti di autoriscaldamento, l'acquisizione delle risposte transitorie tramite campionamento ad alta velocità e la sincronizzazione di più canali per allineare le misurazioni del diodo laser e del fotodiodo. L'accuratezza dei risultati dipende da un corretto controllo della temporizzazione, da un cablaggio a bassa induttanza e da percorsi di misurazione ad ampia larghezza di banda, necessari per osservare il comportamento dinamico durante il funzionamento a impulsi.

Soluzione di misurazione per test VCSEL LIV

I test LIV richiedono la generazione di impulsi di corrente di ampiezza ridotta, con la sincronizzazione di più canali di misura per acquisire con precisione le risposte elettriche e ottiche. La soluzione integra una piattaforma SMU (Source Measure Unit) ad alta densità di canali, in grado di fornire corrente a impulsi e di effettuare la digitalizzazione ad alta velocità. Supporta misurazioni multicanale sincronizzate con una precisione temporale inferiore a 50 ns, consentendo un allineamento preciso tra l'azionamento del diodo laser e la risposta del fotodiodo. Il sistema incorpora inoltre un cablaggio a bassa induttanza e la misurazione remota della tensione per ridurre gli errori causati dagli effetti dei cavi. Grazie alle elevate frequenze di campionamento e all'integrazione multicanale compatta, la soluzione consente una caratterizzazione dinamica accurata e test paralleli scalabili.
Preventivo

Scopri i prodotti della nostra soluzione di misurazione e test VCSEL LIV

Casi d'uso correlati

Come misurare la resistività dei materiali isolanti

Misurare la resistività superficiale e volumetrica dei materiali isolanti con elevata precisione utilizzando elettrometri e celle di resistività.

Per saperne di più

Come progettare e ottimizzare gli amplificatori FET

Progettare e ottimizzare amplificatori FET utilizzando flussi di lavoro di simulazione e misurazione per una verifica accurata delle prestazioni RF.

Per saperne di più

Come caratterizzare le curve IV dei transistor bipolari

Caratterizzare il comportamento corrente-tensione dei transistor BJT utilizzando misurazioni SMU a doppio canale sincronizzate per un'analisi accurata dei dispositivi.

Per saperne di più

contattaci logo

Mettetevi in contatto con uno dei nostri esperti

Avete bisogno di aiuto per trovare la soluzione giusta per voi?

Contattaci