如何在射頻設計中測量雜散輻射

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測量低電平射頻雜散訊號

要識別雜散輻射，必須測量被測裝置在定義好的頻率範圍內的頻率譜。透過將基波訊號與諧波及其他不需要的頻譜響應進行比較，即可揭示其頻率與振幅，並提供所需之測量數據，用以描述所選測量範圍內的雜散行為。

頻譜分析儀會掃描選定的頻率範圍，並測量信號功率隨頻率變化的情況。工程師可調整分辨率帶寬以區分低電平且間距緊密的信號，利用峰值搜尋和頻率標記功能定位個別響應，並檢視所得的頻譜曲線，藉此在一致的測量條件下，分析基波、諧波及雜散信號的特性。

雜散輻射測量解決方案

要測量雜散輻射，必須進行頻域測量，且該測量需具備足夠的頻率覆蓋範圍、靈敏度與解析度，才能將不需要的響應與基波訊號及顯示的噪聲底限區分開來。是德科技 (Keysight) Essential 系列訊號分析儀可測量頻率、功率、諧波及雜散訊號，頻率範圍最高可達 20 GHz（視機型而定）。 工程師可將解析度帶寬調整為 10 Hz 至 3 MHz 之間，以分析低電平與間距緊密的訊號；利用峰值搜尋與標記功能定位響應並測量其頻率與振幅；並套用視窗限制進行頻率與功率的合格/不合格評估。結合這些測量方法，可提供一種可重複的技術，用於在選定的頻率範圍內表徵雜散響應。
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如何在射頻設計方塊圖中測量雜散輻射

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