如何產生用於裝置測試的異常訊號

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+ 脈衝產生器

產生受控的受損信號

當裝置僅在特定的時序、位準、邊緣、雜訊或時基抖動條件下才會發生故障時，受損信號測試就會變得十分困難。完整的系統信號路徑可能會使這些條件難以隔離，因為上游來源、互連線和裝置輸入端都可能是造成所觀察到之行為的原因。

測試從已知的輸入波形開始，然後一次對裝置輸入端套用一個受控的受損信號。工程師可以在監控裝置回應的同時，改變雜訊、時基抖動、電壓位準、邊緣時序、脈衝行為或波形形狀，以判斷哪一種信號條件會觸發故障。

訊號產生異常的解決方案

受損信號測試需要產生預期的輸入激發信號，然後調整時序、位準、邊緣、雜訊或時基抖動，以建立標準和最差情況的操作條件。此解決方案使用脈衝產生器，從單一激發平台上建立脈衝、圖樣、函數、任意和基於雜訊的測試信號。工程師可以套用受控的時基抖動注入、產生帶有雜訊的波形，並針對基頻、高速序列和信號完整性測試情境來設定信號參數。此設定透過在功能驗證期間重新產生相同的受損波形，來支援可重複執行的除錯作業。

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