Wie man beeinträchtigte Signale für den Gerätetest erzeugt

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Erzeugen von kontrollierten beeinträchtigten Signalen

Die Prüfung beeinträchtigter Signale wird schwierig, wenn ein Gerät nur unter bestimmten Timing-, Pegel-, Flanken-, Rausch- oder Jitterbedingungen ausfällt. Ein vollständiger Signalweg im System kann die Isolierung dieser Bedingungen erschweren, da die vorgelagerte Quelle, die Verbindungen und der Geräteeingang alle zum beobachteten Verhalten beitragen können.

Der Test beginnt mit einem bekannten Eingangssignal und wendet dann nacheinander jeweils eine kontrollierte Störung auf den Geräteeingang an. Ingenieure können Rauschen, Jitter, Spannungspegel, Flankenzeitpunkt, Impulsverhalten oder Signalform variieren und dabei die Gerätereaktion überwachen, um die Signalbedingung zu ermitteln, die den Fehler auslöst.

Lösung für beeinträchtigte Signalgenerierung

Das Testen beeinträchtigter Signale erfordert das Generieren des erwarteten Eingangsstimulus und anschließende Anpassungen von Timing, Pegeln, Flanken, Rauschen oder Jitter, um nominale und Worst-Case-Betriebsbedingungen zu erzeugen. Diese Lösung verwendet einen Pulsgenerator, um Impuls-, Muster-, Funktions-, Arbiträr- und rauschbasierte Testsignale von einer einzigen Stimulusplattform aus zu erzeugen. Ingenieure können eine kontrollierte Jitter-Einspeisung anwenden, verrauschte Wellenformen erzeugen und Signalparameter für Basisband-, High-Speed-Seriell- und Signalintegritäts-Testszenarien konfigurieren. Das Setup unterstützt ein reproduzierbares Debugging, indem dieselbe beeinträchtigte Wellenform während der Funktionsvalidierung erneut erzeugt wird.
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