Wie man beeinträchtigte Signale für den Gerätetest erzeugt

+ Impulsgenerator

Erzeugen von kontrollierten beeinträchtigten Signalen

Die Prüfung beeinträchtigter Signale wird schwierig, wenn ein Gerät nur unter bestimmten Timing-, Pegel-, Flanken-, Rausch- oder Jitterbedingungen ausfällt. Ein vollständiger Signalweg im System kann die Isolierung dieser Bedingungen erschweren, da die vorgelagerte Quelle, die Verbindungen und der Geräteeingang alle zum beobachteten Verhalten beitragen können.

Der Test beginnt mit einem bekannten Eingangssignal und wendet dann nacheinander jeweils eine kontrollierte Störung auf den Geräteeingang an. Ingenieure können Rauschen, Jitter, Spannungspegel, Flankenzeitpunkt, Impulsverhalten oder Signalform variieren und dabei die Gerätereaktion überwachen, um die Signalbedingung zu ermitteln, die den Fehler auslöst.

Lösung für beeinträchtigte Signalgenerierung

Für die Prüfung beeinträchtigter Signale muss zunächst der erwartete Eingangsreiz erzeugt und anschließend Timing, Pegel, Flanken, Rauschen oder Jitter angepasst werden, um nominale und ungünstigste Betriebsbedingungen zu simulieren. Diese Lösung nutzt einen Impulsgenerator, um mit einer einzigen Reizplattform Impuls-, Muster-, Funktions-, beliebige und rauschbasierte Testsignale zu erzeugen. Ingenieure können kontrollierten Jitter einspeisen, verrauschte Signalformen generieren und Signalparameter für Basisband-, Hochgeschwindigkeits-Seriell- und Signalintegritätstests konfigurieren. Das System unterstützt wiederholbares Debugging, indem es während der Funktionsvalidierung dieselbe beeinträchtigte Signalform reproduziert.

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