Cómo generar señales alteradas para las pruebas de dispositivos

+ Generador de impulsos

Generar señales alteradas de forma controlada

Las pruebas de señales alteradas resultan complicadas cuando un dispositivo solo falla en condiciones específicas de temporización, nivel, flanco, ruido o fluctuación. La ruta completa de la señal en el sistema puede dificultar el aislamiento de esas condiciones, ya que tanto la fuente aguas arriba como la interconexión y la entrada del dispositivo pueden contribuir al comportamiento observado.

La prueba comienza con una forma de onda de entrada conocida y, a continuación, aplica una alteración controlada cada vez a la entrada del dispositivo. Los ingenieros pueden modificar el ruido, la fluctuación, el nivel de tensión, la sincronización de los flancos, el comportamiento de los pulsos o la forma de la onda, al tiempo que supervisan la respuesta del dispositivo para determinar qué condición de la señal provoca el fallo.

Solución para la generación de señales defectuosas

Las pruebas de señales alteradas requieren generar el estímulo de entrada esperado y, a continuación, ajustar la sincronización, los niveles, los flancos, el ruido o la fluctuación para crear condiciones de funcionamiento nominales y en el peor de los casos. Esta solución utiliza un generador de pulsos para crear señales de prueba de tipo pulso, patrón, función, arbitrarias y basadas en ruido a partir de una única plataforma de estímulos. Los ingenieros pueden aplicar una inyección controlada de fluctuación, generar formas de onda con ruido y configurar los parámetros de la señal para escenarios de prueba de banda base, serie de alta velocidad e integridad de la señal. La configuración permite una depuración repetible al recrear la misma forma de onda alterada durante la validación funcional.

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