장치 테스트를 위한 결함 신호 생성 방법

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제어된 열화 신호 생성

특정 타이밍, 레벨, 에지, 노이즈 또는 지터 조건에서만 디바이스에 장애가 발생하는 경우 열화 신호 테스트가 어려워집니다. 전체 시스템 신호 경로에서는 업스트림 소스, 상호 연결 및 디바이스 입력이 모두 관찰된 동작에 기여할 수 있으므로 이러한 조건을 분리하기가 어렵습니다.

테스트는 알려진 입력 파형으로 시작한 다음 한 번에 하나의 제어된 열화를 디바이스 입력에 적용합니다. 엔지니어는 노이즈, 지터, 전압 레벨, 에지 타이밍, 펄스 동작 또는 파형 모양을 변경하면서 디바이스 응답을 모니터링하여 어떤 신호 조건이 장애를 유발하는지 확인할 수 있습니다.

신호 생성 장애 해결 방안

열화 신호 테스트를 수행하려면 예상되는 입력 자극을 생성한 다음 타이밍, 레벨, 에지, 노이즈 또는 지터를 조정하여 공칭 및 최악의 작동 조건을 만들어야 합니다. 이 솔루션은 펄스 생성기를 사용하여 하나의 자극 플랫폼에서 펄스, 패턴, 함수, 임의 및 노이즈 기반 테스트 신호를 생성합니다. 엔지니어는 제어된 지터 주입을 적용하고, 노이즈가 있는 파형을 생성하며, 베이스밴드, 고속 직렬 및 신호 무결성 테스트 시나리오를 위한 신호 파라미터를 구성할 수 있습니다. 이 설정은 기능 검증 중에 동일한 열화된 파형을 재현하여 반복 가능한 디버깅을 지원합니다.
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