デバイステスト用の異常信号を生成する方法

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制御された劣化信号の生成

特定のタイミング、レベル、エッジ、ノイズ、またはジッターの条件下でのみデバイスに障害が発生する場合、劣化信号のテストは困難になります。上流のソース、相互接続、デバイスの入力がすべて観測された挙動に関与している可能性があるため、システム全体の信号パスではこれらの条件を切り分けることが難しくなります。

テストは既知の入力波形から開始し、デバイス入力に対して1つずつ制御された信号劣化を適用します。エンジニアは、ノイズ、ジッター、電圧レベル、エッジタイミング、パルス挙動、または波形形状を変化させながらデバイスの応答をモニタリングし、どの信号条件が障害を引き起こすかを特定できます。

信号生成障害の解決策

劣化信号のテストでは、期待される入力刺激を生成し、タイミング、レベル、エッジ、ノイズ、またはジッターを調整して、公称およびワーストケースの動作条件を作成する必要があります。このソリューションでは、パルスジェネレータを使用して、1つの刺激プラットフォームからパルス、パターン、ファンクション、任意波形、およびノイズベースのテスト信号を生成します。エンジニアは、制御されたジッターのインジェクション、ノイズを含む波形の生成、およびベースバンド、高速シリアル、信号完全性テストシナリオの信号パラメータの設定を行うことができます。このセットアップは、機能検証中に同じ劣化した波形を再現することで、再現性のあるデバッグをサポートします。
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