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進階軟體，用於韌體、介面和協定漏洞分析
Keysight 裝置弱點分析軟體提供進階工具，可在開發的每個階段評估並強化裝置安全性。這些解決方案可模擬真實世界的攻擊，包括側通道洩漏和故障注入，有助於及早識別嵌入式裝置、晶片和智慧卡中的弱點。透過高準確度的矽前分析、密碼評估，以及差分功率和電磁測試，設計人員可在製造前主動降低風險。立即索取裝置弱點分析軟體報價。想進一步瞭解此解決方案？請參閱下方資源。
全面弱點評估
模擬多種攻擊向量，以揭露密碼學和硬體弱點，讓工程師能全面了解嵌入式裝置、晶片和智慧卡的安全性。
晶片前分析
在設計階段偵測側通道和故障注入漏洞，實現主動緩解、減少昂貴的重新設計，並確保在製造前具備強固的裝置安全性。
旁通道評估
透過高解析度擷取功能，分析功率、電磁和時序訊號，識別傳統測試可能遺漏的微弱洩漏和加密漏洞。
故障注入模擬
模擬真實世界的電壓、時脈、電磁和雷射攻擊，以驗證裝置的彈性，並確保安全機制在蓄意或意外中斷下仍能保持完整性。
典型配置
Inspector SC2 預矽側通道分析
在晶片製造前，找出您的設計中的側通道洩漏和故障注入漏洞，並自動識別根本原因。
在晶片製造前，找出您的設計中的側通道洩漏和故障注入漏洞，並自動識別根本原因。
Inspector SC2 預矽側通道分析
藉由 DS2210A Inspector SC2 晶片前側通道分析，晶片供應商可以在其設計中發現側通道和故障注入漏洞。自動尋找洩漏並識別根本原因，以便針對開發的安全態勢做出明智的決策。
Inspector SC2 預矽側通道分析使用您的電子設計自動化 (EDA) 工具鏈，模擬暫存器傳輸級 (RTL) 設計、網表或佈線網表。然後收集約 5000 條跡線，以偵測洩漏、識別洩漏窗口以及該窗口中哪些信號和閘極處於活動狀態，並對造成洩漏的因素進行排名。
- 洩漏分析：找出攻擊者可利用的洩漏，並偵測設計中導致洩漏的部分
- 根本原因分析：指向實體層的閘極，並轉譯為 RTL 設計，以防止安全漏洞
- 讓非安全專家設計師找出安全問題的根本原因
- 找出並識別問題，趁著仍能快速修復時
- 減少對耗時且昂貴的晶片測試的需求
- 降低晶片後認證失敗和不安全產品的風險
服務與支援
透過精選支援方案以及優先回應與周轉時間，加速創新。
取得可預測的租賃式訂閱和完整的生命週期管理解決方案，讓您更快達成業務目標。
成為 KeysightCare 訂閱者，體驗更優質的服務，獲得承諾的技術回應及更多。
確保您的測試系統符合規格要求，並符合當地與全球標準。
透過內部講師指導的訓練和線上學習，快速進行量測。
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