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El software de análisis de vulnerabilidades de dispositivos de Keysight proporciona herramientas avanzadas para evaluar y reforzar la seguridad de los dispositivos en todas las fases del desarrollo. Estas soluciones simulan ataques reales, incluyendo fugas de canal lateral e inyección de fallos, lo que permite identificar de forma temprana las vulnerabilidades en dispositivos integrados, chips y tarjetas inteligentes. Gracias al análisis de alta precisión previo al silicio, la evaluación criptográfica y las pruebas diferenciales de potencia y electromagnéticas, los diseñadores pueden mitigar de forma proactiva los riesgos antes de la fabricación. Solicite hoy mismo un presupuesto para el software de análisis de vulnerabilidades de dispositivos. ¿Desea obtener más información sobre esta solución? Explore los recursos que se indican a continuación.
Simula múltiples vectores de ataque para descubrir debilidades criptográficas y de hardware, lo que proporciona a los ingenieros una visibilidad completa de la seguridad de los dispositivos integrados, los chips y las tarjetas inteligentes.
Detecta vulnerabilidades de inyección de fallos y canales laterales durante el diseño, lo que permite aplicar medidas de mitigación proactivas, reducir los costosos rediseños y garantizar una seguridad sólida de los dispositivos antes de su fabricación.
Analiza señales de potencia, electromagnéticas y de sincronización con adquisición de alta resolución, identificando fugas sutiles y vulnerabilidades criptográficas que las pruebas convencionales pueden pasar por alto.
Reproduce ataques reales basados en voltaje, reloj, EM y láser para validar la resistencia de los dispositivos y garantizar que los mecanismos de seguridad mantengan su integridad ante interrupciones intencionadas o accidentales.
Detecta, localiza y mitiga las fugas por canales laterales antes del «tape-out». El análisis de canales laterales pre-silicio Inspector SC2 permite a los equipos de seguridad, diseño y verificación de hardware identificar vulnerabilidades de canales laterales durante la fase de diseño y desarrollo, antes de la fabricación del silicio (pre-silicio). Mientras que las pruebas tradicionales posteriores a la fabricación pueden determinar si existe una fuga en un dispositivo fabricado, el análisis de canales laterales pre-silicio de Inspector SC2 ofrece visibilidad sobre el origen de la fuga dentro del diseño, lo que ayuda a los equipos a identificar la causa raíz y a evaluar estrategias de mitigación en una fase más temprana del ciclo de vida del desarrollo. Mediante el análisis de diseños a nivel de transferencia de registros (RTL), de la lista de redes sintetizada y a nivel de puerta, utilizando vectores de prueba y datos de actividad del diseño, el análisis de canales laterales pre-silicio de Inspector SC2 identifica qué señales presentan fugas, en qué medida se producen, cuándo ocurren y dónde se originan dentro del diseño. Esta visibilidad permite a los equipos validar las contramedidas, comparar alternativas de diseño y reducir el coste y el riesgo de descubrir vulnerabilidades tras la fabricación.
Detecta, localiza y mitiga las fugas por canales laterales antes del «tape-out». El análisis de canales laterales pre-silicio Inspector SC2 permite a los equipos de seguridad, diseño y verificación de hardware identificar vulnerabilidades de canales laterales durante la fase de diseño y desarrollo, antes de la fabricación del silicio (pre-silicio). Mientras que las pruebas tradicionales posteriores a la fabricación pueden determinar si existe una fuga en un dispositivo fabricado, el análisis de canales laterales pre-silicio de Inspector SC2 ofrece visibilidad sobre el origen de la fuga dentro del diseño, lo que ayuda a los equipos a identificar la causa raíz y a evaluar estrategias de mitigación en una fase más temprana del ciclo de vida del desarrollo. Mediante el análisis de diseños a nivel de transferencia de registros (RTL), de la lista de redes sintetizada y a nivel de puerta, utilizando vectores de prueba y datos de actividad del diseño, el análisis de canales laterales pre-silicio de Inspector SC2 identifica qué señales presentan fugas, en qué medida se producen, cuándo ocurren y dónde se originan dentro del diseño. Esta visibilidad permite a los equipos validar las contramedidas, comparar alternativas de diseño y reducir el coste y el riesgo de descubrir vulnerabilidades tras la fabricación.
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Detecta, localiza y mitiga las fugas por canales laterales antes del «tape-out». El análisis de canales laterales pre-silicio Inspector SC2 permite a los equipos de seguridad, diseño y verificación de hardware identificar vulnerabilidades de canales laterales durante la fase de diseño y desarrollo, antes de la fabricación del silicio (pre-silicio). Mientras que las pruebas tradicionales posteriores a la fabricación pueden determinar si existe una fuga en un dispositivo fabricado, el análisis de canales laterales pre-silicio de Inspector SC2 ofrece visibilidad sobre el origen de la fuga dentro del diseño, lo que ayuda a los equipos a identificar la causa raíz y a evaluar estrategias de mitigación en una fase más temprana del ciclo de vida del desarrollo. Mediante el análisis de diseños a nivel de transferencia de registros (RTL), de la lista de redes sintetizada y a nivel de puerta, utilizando vectores de prueba y datos de actividad del diseño, el análisis de canales laterales pre-silicio de Inspector SC2 identifica qué señales presentan fugas, en qué medida se producen, cuándo ocurren y dónde se originan dentro del diseño. Esta visibilidad permite a los equipos validar las contramedidas, comparar alternativas de diseño y reducir el coste y el riesgo de descubrir vulnerabilidades tras la fabricación.
El análisis de canales laterales previos a la fabricación de silicio de Inspector SC2 ayuda a los equipos de semiconductores a detectar y localizar fugas por canales laterales antes de la salida a producción, momento en el que los cambios en el diseño son más rápidos, menos costosos y más fáciles de implementar.
Mediante el uso de vectores de prueba, archivos de actividad VCD y modelos de potencia opcionales generados a través de flujos de trabajo existentes de automatización del diseño electrónico (EDA), Inspector analiza diseños RTL, listas de redes sintetizadas y diseños a nivel de puerta para identificar fugas, medir su gravedad y localizar con precisión las señales y los módulos responsables. Al proporcionar un análisis de causas raíz que permite actuar, los equipos pueden validar las contramedidas, comparar opciones de implementación y comparar las fugas entre los diseños RTL, de lista de redes sintetizada y a nivel de puerta para identificar los cambios introducidos durante el flujo de diseño.
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