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Il software Keysight Device Vulnerability Analysis offre strumenti avanzati per valutare e rafforzare la sicurezza dei dispositivi in ogni fase dello sviluppo. Queste soluzioni simulano attacchi reali, tra cui perdite di canale laterale e iniezione di errori, consentendo l'identificazione precoce delle vulnerabilità nei dispositivi integrati, nei chip e nelle smart card. Grazie all'analisi pre-silicio ad alta precisione, alla valutazione crittografica e ai test differenziali di potenza ed elettromagnetici, i progettisti possono mitigare in modo proattivo i rischi prima della fabbricazione. Richiedete oggi stesso un preventivo per il software di analisi della vulnerabilità dei dispositivi. Vuoi saperne di più su questa soluzione? Esplora le risorse riportate di seguito.
Simula più vettori di attacco per individuare i punti deboli crittografici e hardware, offrendo agli ingegneri una visibilità completa sulla sicurezza dei dispositivi integrati, dei chip e delle smart card.
Rileva le vulnerabilità dei canali laterali e dell'iniezione di errori durante la progettazione, consentendo mitigazioni proattive, riducendo costose riprogettazioni e garantendo una solida sicurezza dei dispositivi prima della fabbricazione.
Analizza i segnali di alimentazione, elettromagnetici e di temporizzazione con acquisizione ad alta risoluzione, identificando sottili perdite e vulnerabilità crittografiche che i test convenzionali potrebbero non rilevare.
Replica attacchi reali basati su tensione, clock, EM e laser per verificare la resilienza dei dispositivi e garantire che i meccanismi di sicurezza mantengano la loro integrità in caso di interruzioni intenzionali o accidentali.
Rileva, individua e mitiga le fughe di informazioni tramite canali laterali prima del tape-out. L'analisi dei canali laterali pre-silicio Inspector SC2 consente ai team addetti alla sicurezza hardware, alla progettazione e alla verifica di identificare le vulnerabilità dei canali laterali durante la fase di progettazione e sviluppo, prima della produzione del silicio (pre-silicio). Mentre i tradizionali test post-silicio possono determinare se esistono fughe di informazioni in un dispositivo fabbricato, l’analisi dei canali laterali pre-silicio di Inspector SC2 offre visibilità sull’origine delle fughe all’interno del progetto, aiutando i team a identificare la causa principale e a valutare le strategie di mitigazione nelle prime fasi del ciclo di vita dello sviluppo. Analizzando i progetti a livello di trasferimento dei registri (RTL), la netlist sintetizzata e i progetti a livello di gate utilizzando vettori di test e dati sulle attività di progettazione, l’analisi dei canali laterali pre-silicio di Inspector SC2 identifica quali segnali presentano perdite, l’entità di tali perdite, quando si verificano e da dove hanno origine all’interno del progetto. Questa visibilità consente ai team di convalidare le contromisure, confrontare alternative di progettazione e ridurre i costi e i rischi legati all’individuazione di vulnerabilità dopo la produzione.
Rileva, individua e mitiga le fughe di informazioni tramite canali laterali prima del tape-out. L'analisi dei canali laterali pre-silicio Inspector SC2 consente ai team addetti alla sicurezza hardware, alla progettazione e alla verifica di identificare le vulnerabilità dei canali laterali durante la fase di progettazione e sviluppo, prima della produzione del silicio (pre-silicio). Mentre i tradizionali test post-silicio possono determinare se esistono fughe di informazioni in un dispositivo fabbricato, l’analisi dei canali laterali pre-silicio di Inspector SC2 offre visibilità sull’origine delle fughe all’interno del progetto, aiutando i team a identificare la causa principale e a valutare le strategie di mitigazione nelle prime fasi del ciclo di vita dello sviluppo. Analizzando i progetti a livello di trasferimento dei registri (RTL), la netlist sintetizzata e i progetti a livello di gate utilizzando vettori di test e dati sulle attività di progettazione, l’analisi dei canali laterali pre-silicio di Inspector SC2 identifica quali segnali presentano perdite, l’entità di tali perdite, quando si verificano e da dove hanno origine all’interno del progetto. Questa visibilità consente ai team di convalidare le contromisure, confrontare alternative di progettazione e ridurre i costi e i rischi legati all’individuazione di vulnerabilità dopo la produzione.
DS2210A
Rileva, individua e mitiga le fughe di informazioni tramite canali laterali prima del tape-out. L'analisi dei canali laterali pre-silicio Inspector SC2 consente ai team addetti alla sicurezza hardware, alla progettazione e alla verifica di identificare le vulnerabilità dei canali laterali durante la fase di progettazione e sviluppo, prima della produzione del silicio (pre-silicio). Mentre i tradizionali test post-silicio possono determinare se esistono fughe di informazioni in un dispositivo fabbricato, l’analisi dei canali laterali pre-silicio di Inspector SC2 offre visibilità sull’origine delle fughe all’interno del progetto, aiutando i team a identificare la causa principale e a valutare le strategie di mitigazione nelle prime fasi del ciclo di vita dello sviluppo. Analizzando i progetti a livello di trasferimento dei registri (RTL), la netlist sintetizzata e i progetti a livello di gate utilizzando vettori di test e dati sulle attività di progettazione, l’analisi dei canali laterali pre-silicio di Inspector SC2 identifica quali segnali presentano perdite, l’entità di tali perdite, quando si verificano e da dove hanno origine all’interno del progetto. Questa visibilità consente ai team di convalidare le contromisure, confrontare alternative di progettazione e ridurre i costi e i rischi legati all’individuazione di vulnerabilità dopo la produzione.
L'analisi dei canali laterali pre-silicio di Inspector SC2 aiuta i team che operano nel settore dei semiconduttori a individuare e localizzare le perdite tramite canali laterali prima del tape-out, quando le modifiche al progetto sono più rapide, meno costose e più facili da implementare.
Utilizzando vettori di test, file di attività VCD e modelli di potenza opzionali generati tramite flussi di lavoro EDA (Electronic Design Automation) esistenti, Inspector analizza i progetti RTL, le netlist sintetizzate e i progetti a livello di gate per identificare le perdite, misurarne la gravità e individuare con precisione i segnali e i moduli responsabili. Grazie a un’analisi delle cause alla radice che si traduce in azioni concrete, i team possono convalidare le contromisure, confrontare le opzioni di implementazione e confrontare le perdite tra i progetti RTL, le netlist sintetizzate e i progetti a livello di gate per identificare le modifiche introdotte durante il flusso di progettazione.
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