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O software Keysight Device Vulnerability Analysis oferece ferramentas avançadas para avaliar e fortalecer a segurança dos dispositivos em todas as etapas do desenvolvimento. Essas soluções simulam ataques reais, incluindo vazamento de canal lateral e injeção de falhas, permitindo a identificação precoce de vulnerabilidades em dispositivos embarcados, chips e cartões inteligentes. Com análise pré-silício de alta precisão, avaliação criptográfica e testes diferenciais de energia e eletromagnéticos, os projetistas podem mitigar proativamente os riscos antes da fabricação. Solicite hoje mesmo uma cotação para o software de análise de vulnerabilidade de dispositivos. Quer saber mais sobre esta solução? Explore os recursos abaixo.
Simula múltiplos vetores de ataque para revelar vulnerabilidades criptográficas e de hardware, proporcionando aos engenheiros visibilidade total sobre a segurança de dispositivos incorporados, chips e cartões inteligentes.
Detecta vulnerabilidades de canal lateral e injeção de falhas durante o projeto, permitindo mitigações proativas, reduzindo reprojetos dispendiosos e garantindo a segurança robusta do dispositivo antes da fabricação.
Analisa sinais de energia, eletromagnéticos e de temporização com aquisição de alta resolução, identificando vazamentos sutis e vulnerabilidades criptográficas que os testes convencionais podem deixar passar.
Reproduz ataques reais baseados em tensão, relógio, EM e laser para validar a resiliência do dispositivo e garantir que os mecanismos de segurança mantenham a integridade em caso de interrupções intencionais ou acidentais.
Detecte, localize e mitigue vazamentos por canal lateral antes do tape-out. A Análise de Canal Lateral Pré-Silício do Inspector SC2 permite que as equipes de segurança de hardware, projeto e verificação identifiquem vulnerabilidades de canal lateral durante a fase de projeto e desenvolvimento, antes da fabricação do silício (pré-silício). Enquanto os testes tradicionais pós-silício podem determinar se há vazamento em um dispositivo fabricado, a Análise de Canal Lateral Pré-Silício do Inspector SC2 oferece visibilidade sobre a origem do vazamento no projeto, ajudando as equipes a identificar a causa raiz e avaliar estratégias de mitigação em um estágio mais precoce do ciclo de vida do desenvolvimento. Ao analisar projetos no nível de transferência de registros (RTL), na lista de redes sintetizada e no nível de porta, utilizando vetores de teste e dados de atividade de projeto, a Análise de Canal Lateral Pré-Silício do Inspector SC2 identifica quais sinais apresentam vazamento, a quantidade vazada, quando o vazamento ocorre e onde ele se origina no projeto. Essa visibilidade permite que as equipes validem contramedidas, comparem alternativas de projeto e reduzam o custo e o risco de descobrir vulnerabilidades após a fabricação.
Detecte, localize e mitigue vazamentos por canal lateral antes do tape-out. A Análise de Canal Lateral Pré-Silício do Inspector SC2 permite que as equipes de segurança de hardware, projeto e verificação identifiquem vulnerabilidades de canal lateral durante a fase de projeto e desenvolvimento, antes da fabricação do silício (pré-silício). Enquanto os testes tradicionais pós-silício podem determinar se há vazamento em um dispositivo fabricado, a Análise de Canal Lateral Pré-Silício do Inspector SC2 oferece visibilidade sobre a origem do vazamento no projeto, ajudando as equipes a identificar a causa raiz e avaliar estratégias de mitigação em um estágio mais precoce do ciclo de vida do desenvolvimento. Ao analisar projetos no nível de transferência de registros (RTL), na lista de redes sintetizada e no nível de porta, utilizando vetores de teste e dados de atividade de projeto, a Análise de Canal Lateral Pré-Silício do Inspector SC2 identifica quais sinais apresentam vazamento, a quantidade vazada, quando o vazamento ocorre e onde ele se origina no projeto. Essa visibilidade permite que as equipes validem contramedidas, comparem alternativas de projeto e reduzam o custo e o risco de descobrir vulnerabilidades após a fabricação.
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Detecte, localize e mitigue vazamentos por canal lateral antes do tape-out. A Análise de Canal Lateral Pré-Silício do Inspector SC2 permite que as equipes de segurança de hardware, projeto e verificação identifiquem vulnerabilidades de canal lateral durante a fase de projeto e desenvolvimento, antes da fabricação do silício (pré-silício). Enquanto os testes tradicionais pós-silício podem determinar se há vazamento em um dispositivo fabricado, a Análise de Canal Lateral Pré-Silício do Inspector SC2 oferece visibilidade sobre a origem do vazamento no projeto, ajudando as equipes a identificar a causa raiz e avaliar estratégias de mitigação em um estágio mais precoce do ciclo de vida do desenvolvimento. Ao analisar projetos no nível de transferência de registros (RTL), na lista de redes sintetizada e no nível de porta, utilizando vetores de teste e dados de atividade de projeto, a Análise de Canal Lateral Pré-Silício do Inspector SC2 identifica quais sinais apresentam vazamento, a quantidade vazada, quando o vazamento ocorre e onde ele se origina no projeto. Essa visibilidade permite que as equipes validem contramedidas, comparem alternativas de projeto e reduzam o custo e o risco de descobrir vulnerabilidades após a fabricação.
A análise de canal lateral pré-silício do Inspector SC2 ajuda as equipes de semicondutores a detectar e localizar vazamentos de canal lateral antes do tape-out, quando as alterações no projeto são mais rápidas, menos onerosas e mais fáceis de implementar.
Utilizando vetores de teste, arquivos de atividade VCD e modelos de potência opcionais gerados por meio de fluxos de trabalho existentes de automação de projeto eletrônico (EDA), o Inspector analisa projetos em RTL, netlist sintetizada e nível de porta para identificar vazamentos, medir sua gravidade e identificar os sinais e módulos responsáveis. Ao fornecer uma análise da causa raiz que permite a tomada de medidas, as equipes podem validar contramedidas, comparar opções de implementação e comparar o vazamento entre projetos em RTL, lista de redes sintetizada e nível de porta para identificar alterações introduzidas durante o fluxo de projeto.
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