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單向故障注入探棒

DS1120A 單向故障注入探棒利用快速、可預測且高功率的電磁脈衝，在現代晶片上造成局部故障。

產品影像

  • 最高頻率

    1 MHz

  • Maximum voltage

    475 V ± 10%

  • Technology

    Device Security

  • 產品類型

    Unidirectional fault injection probe

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焦點訊息

隨著晶片封裝日益複雜，以及採用精密的光敏感測器以防止光學雷射故障，Keysight 為現代晶片上的故障注入 (FI) 情境，提供了一種全新且強大的測試向量。單向故障注入探棒可在晶片的使用者定義位置上，產生快速、高功率的電磁脈衝。單向 FI 測試可讓您繞過傳統的防禦措施，並為高階安全測試提供下一步。

DS1120A 易於設定和測試的流程可節省時間，提供符合國際測試實驗室和製造商要求的快速且可預測脈衝。探棒組、XY 工作台和攝影機提供完整的設定，測試人員可透過 Inspector FI 軟體彈性地控制和參數化。該軟體可實現測試自動化和輕鬆報告，以便進一步的情境分析和改進。單向故障注入探棒可獨立使用，或在客製化環境中，以及與您自己的硬體和軟體整合使用。 

  • 無需晶片解封裝
  • 光感測器網格無法偵測電磁脈衝雜訊
  • 翻轉目標裝置上邏輯單元的數值
  • 與雷射脈衝雜訊相比，永久性晶片損壞的機率較低
  • 可調整的高功率脈衝
  • 內含不同線圈，可在晶片上產生不同的電磁場
  • 可透過軟體配置的快速且短的脈衝
  • 對觸發的快速且可預測響應
  • 適用於高精度電磁探棒的精密 XYZ 平台，以進行自動掃描

安裝於高精度電磁探棒的精密 XYZ 平台，並搭配：

  • 1 個新月形探棒鐵氧體
  • 高精度故障注入探棒尖端

服務與支援