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단방향 결함 주입 프로브

DS1120A 단방향 오류 주입 프로브는 빠르고 예측 가능하며 고출력 전자기 펄스를 사용하여 최신 칩에서 국부적인 오류를 수행합니다.

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하이라이트

칩 패키지가 점점 더 복잡해지고, 광학 레이저 결함을 방지하기 위해 정교한 광감지 센서가 널리 사용됨에 따라, 키사이트는 최신 칩의 결함 주입(FI) 시나리오를 위한 새롭고 강력한 테스트 벡터를 선보입니다. 단방향 결함 주입 프로브는 칩의 사용자 지정 위치에 빠르고 고출력의 전자기 펄스를 유도합니다. 단방향 FI 테스트를 통해 기존의 대응 조치를 우회할 수 있으며, 이는 최상위 수준의 보안 테스트를 위한 다음 단계로 나아가는 길을 열어줍니다.

DS1120A는 간편한 설정 및 테스트 과정을 통해 시간을 절약해 주며, 국제 테스트 실험실 및 제조업체의 요구 사항을 충족하는 빠르고 예측 가능한 펄스를 제공합니다. 프로브 세트, XY 테이블, 카메라로 구성된 이 시스템은 테스트 담당자가 Inspector FI 소프트웨어를 통해 유연하게 제어하고 매개변수를 설정할 수 있는 완벽한 테스트 환경을 제공합니다. 이 소프트웨어를 통해 테스트 자동화가 가능하며, 추가적인 시나리오 분석 및 개선을 위한 보고서를 손쉽게 생성할 수 있습니다. 단방향 결함 주입 프로브는 단독으로 사용하거나 맞춤형 환경에서 사용할 수 있을 뿐만 아니라, 사용자의 하드웨어 및 소프트웨어와 통합하여 사용할 수도 있습니다. 

  • 칩을 패키지에서 꺼낼 필요가 없습니다.
  • 광 센서 메쉬로 감지되지 않는 전자기적 오류
  • 대상 장치의 논리 셀 값을 반전시킵니다.
  • 레이저 글리칭에 비해 칩이 영구적으로 손상될 가능성이 낮습니다.
  • 조절 가능한 고출력 펄스
  • 칩 전체에 걸쳐 다양한 전자기장을 생성하기 위해 여러 종류의 코일이 포함되어 있습니다.
  • 소프트웨어를 통해 빠르고 짧은 펄스를 설정할 수 있음
  • 트리거에 대한 신속하고 예측 가능한 반응
  • 자동 스캐닝용 고정밀 전자기 프로브의 Precision XYZ 스테이지에 적합합니다.

고정밀 전자기 프로브의 정밀 XYZ 스테이지에 장착되며, 다음과 같은 기능을 갖추고 있습니다:

  • 1 크레센트 프로브 페라이트
  • 고정밀 결함 주입 프로브 팁​

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