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단방향 결함 주입 프로브

DS1120A 단방향 오류 주입 프로브는 빠르고 예측 가능하며 고출력 전자기 펄스를 사용하여 최신 칩에서 국부적인 오류를 수행합니다.

제품 이미지

  • Maximum frequency

    1 MHz

  • Maximum voltage

    475 V ± 10%

  • Technology

    Device Security

  • Product type

    Unidirectional fault injection probe

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하이라이트

광학 레이저 결함을 방지하기 위해 사용되는 점차 까다로워지는 칩 패키지와 정교한 감광 센서에 대응하여, 키사이트는 최신 칩의 결함 주입(FI) 시나리오를 위한 강력하고 새로운 테스트 벡터를 선보입니다. 단방향 결함 주입 프로브는 칩의 사용자가 정의한 위치에 빠르고 고출력인 전자기 펄스를 유도합니다. 단방향 FI 테스트를 통해 기존의 대응책을 우회할 수 있으며 하이엔드 보안 테스트의 다음 단계를 경험할 수 있습니다.

DS1120A의 간편한 설정 및 테스트 프로세스는 국제 테스트 랩 및 제조업체의 요구 사항을 충족하는 빠르고 예측 가능한 펄스를 제공하여 시간을 절약해 줍니다. 프로브 세트, XY 테이블, 카메라는 테스터가 Inspector FI 소프트웨어를 통해 유연하게 제어하고 매개변수화할 수 있는 완전한 설정을 제공합니다. 이 소프트웨어는 테스트 자동화와 추가 시나리오 분석 및 개선을 위한 간편한 리포트 작성을 지원합니다. 단방향 결함 주입 프로브는 독립형으로 사용하거나 커스텀 환경에서 사용할 수 있으며 자체 하드웨어 및 소프트웨어와 통합할 수도 있습니다. 

  • 칩 패키지 제거 불필요
  • 광 센서 메쉬에 감지되지 않는 전자기 글리치
  • 타겟 디바이스의 로직 셀 값 반전
  • 레이저 글리칭에 비해 영구적인 칩 손상 가능성 감소
  • 조정 가능한 고출력 펄스
  • 칩 위에 다양한 전자기장을 생성하기 위해 포함된 서로 다른 코일
  • 소프트웨어에서 구성 가능한 빠르고 짧은 펄스
  • 트리거에 대한 빠르고 예측 가능한 응답
  • 자동 스캔을 위한 고정밀 전자기 프로브의 정밀 XYZ 스테이지에 장착

다음을 사용하여 고정밀 전자기 프로브의 정밀 XYZ 스테이지에 장착:

  • 초승달형 프로브 페라이트 1개
  • 고정밀 결함 주입 프로브 팁​

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