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単方向故障注入プローブ

DS1120A単方向故障注入プローブは、高速で予測可能、かつ高出力の電磁パルスを使用して、最新のチップに局所的な故障を発生させます。

製品画像

  • 最大周波数

    1 MHz

  • Maximum voltage

    475 V ± 10%

  • Technology

    Device Security

  • （SPD）N6700の製品タイプ

    Unidirectional fault injection probe

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ハイライト

ますます複雑化するチップパッケージや、光レーザー故障を防ぐために採用されている高度な感光性センサーに対応するため、キーサイトは最新チップに対する故障注入（FI）シナリオのための強力な新しいテスト手法を提供します。単方向故障注入プローブは、チップのユーザー定義の場所に高速かつ高出力の電磁パルスを誘導します。単方向FIテストにより、従来の対策を回避し、ハイエンドセキュリティテストの次のステップを実現します。

DS1120Aの簡単なセットアップとテストプロセスにより時間を節約でき、国際的なテストラボおよびメーカーの要件を満たす高速で予測可能なパルスを提供します。プローブ、XYテーブル、およびカメラのセットにより、テスターはInspector FIソフトウェアを介して柔軟に制御およびパラメーター化できる完全なセットアップを実現します。このソフトウェアにより、テストの自動化と、さらなるシナリオ分析や改良のための簡単なレポート作成が可能になります。単方向故障注入プローブは、単体で使用することも、カスタム環境で使用することも、独自のハードウェアやソフトウェアと統合することも可能です。 

  • チップのパッケージ開封が不要
  • 光センサーメッシュによって電磁グリッチが検知されない
  • ターゲットデバイス上のロジックセルの値を反転
  • レーザーグリッチングと比較して、チップの恒久的な損傷のリスクが低い
  • 調整可能な高出力パルス
  • チップ上にさまざまな電磁界を生成するための各種コイルを付属
  • ソフトウェアから設定可能な高速かつ短時間のパルス
  • トリガに対する高速で予測可能な応答
  • 自動スキャン用の高精度電磁プローブのプレシジョンXYZステージに適合

以下の高精度電磁プローブのプレシジョンXYZステージに搭載可能：

  • 三日月型プローブフェライト 1個
  • 高精度故障注入プローブチップ​

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