來源 / 測量單位

半導體產業中使用 SMU 測試積體電路 (IC) 的圖像

搭配適當的精準度、速度、解析度和密度

以高度可靠性和合格性測試低功率積體電路或汽車系統等複雜系統是一項極具挑戰性的任務。瞭解源極/量測單元 (SMU) 如何幫助您克服特定應用測試中的關鍵障礙，包括低功率積體電路測試、低電流 LED 測試、垂直腔表面發射雷射 (VCSEL) 感測器/模組測試、窄脈衝光電流電壓 (LIV) 測試、光接收器和調變器的直流偏置源極測試、資料中心應用等。

學習使用 SMU 的要點

學習原始碼電錶的基本知識

SMU 基本知識

學習源/量測單元 (或源電錶) 的基本知識，此儀器可在量測直流電 (DC) 或電壓的同時，將其輸出/供應或下沉/接收。

瞭解 SMU 的不同類型和外形尺寸

SMU 類型說明

探索 SMU 的各種外形尺寸，以及如何選擇正確的類型以優化特定應用的性能。評估 SMU 類別及其運作模式的優缺點。

瞭解 SMU 的不同操作模式

SMU 操作模式說明

深入瞭解源電錶通常提供的多種操作模式。瞭解何時使用一般、電源、高電容或雷射二極體模式。

瞭解電氣材料的特性

片狀電阻解釋

深入瞭解薄層電阻，這是電氣材料的基本特性。瞭解如何在半導體裝置測試中使用電源/量測裝置執行薄片電阻量測。

瞭解 SMUs 數位儀模式

SMU 數位儀模式說明

了解 SMU 數位儀模式的功能及其實際應用。學習精通 SMU 的觸發控制系統，比使用計時器觸發功能更有效率地捕捉瞬間事件。

特色課程

課程

半導體設計中的低功耗 IC 測試

瞭解如何透過執行多通道 IV 量測、休眠電流量測及動態 IV 量測，進行低功耗 IC 的 IV 特性分析。
使用高通道密度來源量測裝置進行低功率 ic 測試
課程

VCSEL 感測器/模組的窄脈衝 LIV 測試

瞭解如何解決垂直腔表面發光雷射 (VSCEL) 光電流電壓 (LIV) 測試的五大挑戰，包括裝置自熱、窄脈衝測試、無法檢測電流和電壓、佈線錯誤和測試埠限制。
使用高通道密度來源測量裝置執行窄脈衝 LIV 測試
課程

用於多量子管控制的直流偏置源

瞭解如何在量子運算中使用 SMU 作為超導電路中多 Z 控制的低雜訊直流偏壓源，以及單電子電晶體中的矽自旋偏壓。
如何為量子運算中的多量子位元控制提供精確的直流偏置源
課程

用於光學元件的精密直流偏置源

了解如何使用 SMU 作為精密直流偏置源來測試光學裝置，同時在資料中心領域中遊刃有餘地應對六大挑戰。
如何使用高通道密度來源量測裝置，為資料中心的光接收器/調變器提供精確的直流偏置來源。
課程

IV 低電流 LED 的特性分析

瞭解如何為低電流 LED 的精密 IV 特性選擇合適的 SMU，並觀看執行此測試的逐步示範。
半導體製造中低電流 LED 的高通道密度 IV 特性。

探索 SMU 應用程式

使用高通道密度來源量測裝置進行低功率 ic 測試
VCSEL LIV 測試的來源測量單位
用於光學裝置測試的光源測量單元
量子計算的源量度單位
用於 LED 測試的來源測量單位
高密度精密 SMU 解決方案與 IV 曲線量測軟體

多注重特性，少注重同步

瞭解如何使用 SMU 來克服測試低功率積體電路的五大挑戰，以及如何讓您將更多時間專注於測試而非實作細節。

SMUs：深入瞭解

透過 Keysight 工程師的應用筆記，瞭解 SMU 如何協助您克服測試與驗證的挑戰

如何評估太陽能電池的 IV 特性

如何評估太陽能電池的 IV 特性

表徵太陽能電池的 IV 特性需要廣泛的電流和電壓測量能力，涵蓋所有四個測量象限。瞭解如何使用來源 / 測量裝置執行測試，例如短路電流、開路電壓和最大功率點測量，以估評太陽能電池。

瞭解更多 keysight-arrow

如何偏置多個量子位元

如何偏置多個量子位元

在量子運算開發中，提供直流偏置電壓以控制多個量子位元，需要透過防止量子位元退相干來維持量子位元的完整性。瞭解如何利用低雜訊電壓供應和源電錶相對於低溫恆溫器的位置來表征量子位元。

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如何分析低功率積體電路的特性

如何分析低功率積體電路的特性

量測低功率 IC 的電流/電壓特性時，需使用各種基礎儀器，包括多個電源供應器、數位萬用電錶（DMM）、脈衝產生器和數位轉換器。 了解如何使用單一電源量測設備（SMU），快速有效地分析低功率 IC 的特性。

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深入了解有關 SMU 的更多見解和問題

請觀賞此隨選網路研討會，此研討會將解決您在高密度精密來源/量測單元 (SMU) 測試方面最迫切的問題。
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