源量測單元

半導體產業中，使用 SMU 測試積體電路 (IC) 的影像

匹配適當的精確度、速度、解析度和密度

以高度可靠性和資格認證測試低功耗積體電路或汽車系統等複雜系統，是一項具挑戰性的任務。了解源量測單元 (SMU) 如何協助您克服應用特定測試中的主要障礙，包括低功耗積體電路測試、低電流 LED 測試、垂直腔面射型雷射 (VCSEL) 感測器/模組測試、窄脈衝光電流電壓 (LIV) 測試、光接收器和調變器的直流偏壓源測試、資料中心應用等。

了解使用 SMU 的基礎知識。

了解源錶的基礎知識。

SMU 基礎知識

了解源量測單元（或源錶）的基礎知識，這是一種可量測直流電 (DC) 或電壓，同時輸出/供應或吸收/接收這些電流或電壓的儀器。

了解 SMU 的不同類型和外形尺寸。

SMU 類型說明

探索 SMU 的各種外形尺寸，以及如何選擇正確的類型以最佳化特定應用的效能。評估 SMU 類別及其操作模式的優缺點。

了解 SMU 中可用的不同操作模式。

SMU 操作模式說明

深入了解源錶通常提供的多種操作模式。了解何時使用正常模式、電源模式、高電容模式或雷射二極體模式。

了解電氣材料的特性。

薄層電阻率解釋

深入瞭解薄層電阻，這是電氣材料的基本特性。瞭解詳情在半導體裝置測試中使用電源/量測裝置執行薄片電阻量測。

瞭解 SMU 的數位化模式

SMU 數位化器模式說明

理解SMU數位化模式的功能及其實際應用。學習精通SMU的觸發控制系統，並比使用計時器觸發功能更有效率地捕捉瞬態活動。

精選課程

課程

半導體設計中的低功率 IC 測試

瞭解詳情透過執行多通道 IV 量測、休眠電流量測及動態 IV 量測，進行低功耗 IC 的 IV 特性分析。
課程

VCSEL 感測器/模組的窄脈衝 LIV 測試

瞭解詳情解決垂直腔表面發光雷射 (VSCEL) 光電流電壓 (LIV) 測試的五大挑戰，包括裝置自熱、窄脈衝測試、無法檢測電流和電壓、佈線錯誤和測試埠限制。
課程

用於多量子位元控制的直流偏壓源

瞭解詳情在量子運算中使用 SMU 作為超導電路中多 Z 控制的低雜訊直流偏壓源，以及單電子電晶體中的矽自旋偏壓。
課程

用於光學裝置的精密直流偏壓源

了解如何使用 SMU 作為精密直流偏壓源來測試光學裝置，同時解決資料中心領域的六大主要挑戰。
課程

低電流 LED 的 IV 特性分析

瞭解詳情為低電流 LED 的精密 IV 特性選擇合適的 SMU，並觀看執行此測試的逐步示範。

探索 SMU 應用

使用高通道密度電源量測單元進行低功率 IC 測試
用於 VCSEL LIV 測試的電源量測單元
用於光學裝置測試的電源量測單元
用於量子運算的電源量測單元
用於 LED 測試的電源量測單元
具備 IV 曲線量測軟體的高密度精密 SMU 解決方案

更專注於特性分析，減少同步工作

瞭解詳情使用 SMU 來克服測試低功率積體電路的五大挑戰，以及如何讓您將更多時間專注於測試而非實作細節。

SMU：深入了解

透過 Keysight 工程師的應用說明，了解 SMU 如何協助您克服測試與驗證挑戰

如何表徵低功耗積體電路

量測低功率 IC 的電流/電壓特性需要各種基本儀器，包括多個電源供應器、數位萬用電錶 (DMM)、脈衝產生器和數位化儀。了解如何使用單一電源/量測單元 (SMU) 有效率且快速地特性化低功率 IC。

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如何進行電阻測量

電阻測量需要消除誘發誤差的因素，例如殘留的測試導線電阻、熱電動力和測量路徑中的漏電電流。瞭解詳情使用遠端感測功能（4 線連接）、偏移補償和保護功能來解決這些量測問題。

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如何評估太陽能電池的IV特性

表徵太陽能電池的 IV 特性需要廣泛的電流和電壓測量能力，涵蓋所有四個測量象限。瞭解詳情使用來源 / 測量裝置執行測試，例如短路電流、開路電壓和最大功率點測量，以評估太陽能電池。

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深入了解更多關於 SMU 的見解與問題

觀看此隨選網路研討會，它將解答您關於高密度精密源量測單元 (SMU) 測試最迫切的問題。

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