ソース / 測定単位

半導体業界でSMUを使用してテストされる集積回路（IC）の画像

適切な高精度、スピード、解像度、密度に合わせる

低電力集積回路や車載システムのような複雑なシステムを、高い信頼性と適格性でテストすることは困難な作業です。低消費電力集積回路テスト、低電流LEDテスト、垂直共振器面発光レーザー（VCSEL）センサー／モジュールテスト、狭パルス光電流電圧（LIV）テスト、光レシーバーおよび変調器用DCバイアスソーシングテスト、データセンターアプリケーションなど、アプリケーション固有のテストにおいて、ソース／メジャーユニット（SMU）がどのように重要な障害を克服するのに役立つかをご覧ください。

SMUの使い方の基本を学ぶ

ソースメーターの基本を学ぶ

SMUの基礎知識

ソース／メジャー・ユニット（またはソース・メーター）の基本を学びます。ソース／メジャー・ユニットは、直流電流（DC）または電圧を測定すると同時に、それらを供給／供給またはシンク／受信する機器です。

SMUのさまざまなタイプとフォームファクターを学ぶ

SMUの種類について

SMUのさまざまなフォーム・ファクターと、特定のアプリケーションのパフォーマンスを最適化するための適切なタイプの選択方法について説明します。SMUのカテゴリーとその動作モードの長所と短所を評価する。

SMUで利用可能なさまざまな操作モードを学ぶ

SMUの動作モードについて

ソースメータで一般的に提供されている複数の動作モードについて説明します。通常モード、電源モード、高キャパシタンス・モード、レーザー・ダイオード・モードの使用タイミングを理解する。

電気素材の特性について学ぶ

シート抵抗率の説明

電気材料の基本特性であるシート抵抗率について詳しく学ぶ。半導体デバイス試験におけるシート抵抗測定のためのソース/メジャー・ユニットの使用方法を理解する。

SMUのデジタイザモードについて

SMUデジタイザーモードの説明

SMUデジタイザモードの機能とその実用的なアプリケーションを理解する。SMUのトリガ制御システムに習熟し、タイマ・トリガ機能を使用するよりも効率的に過渡事象をキャプチャできるようになります。

注目のコース

コース

半導体設計における低消費電力ICテスト

マルチチャネルIV測定、スリープ電流測定、およびダイナミックIV特性評価を実施することにより、低消費電力ICのIV特性評価を実施する方法を学びます。
高チャンネル密度ソース測定ユニットを使用した低電力ICテスト
コース

VCSELセンサー/モジュールの狭パルスLIVテスト

垂直共振器面発光レーザー（VSCEL）の光-電流-電圧（LIV）テストにおける上位5つの課題（デバイスの自己発熱、狭パルステスト、検出不可能な電流と電圧、配線エラー、テストポートの制限など）を解決する方法をご紹介します。
高チャンネル密度ソース測定ユニットを使用した狭パルスLIVテストの実施
コース

マルチ量子 キュービット制御用DCバイアス・ソース

超伝導回路の多重Z制御や単一電子トランジスタのシリコンスピンバイアス用の低ノイズDCバイアス源として、量子 コンピューティングにおけるSMUの使用方法を学ぶ。
量子 コンピューティングにおける多重量子ビット制御のための高精度 直流バイアス源の供給方法
コース

光デバイス用高精度DCバイアス源

データセンター分野における6つの主な課題を克服しながら、SMUを高精度 DCバイアス源として使用して光デバイスをテストする方法を学びます。
データセンター内の光受信器/変調器用高精度 DCバイアスソースを高チャネル密度ソース測定ユニットを使用して提供する方法。
コース

IV 低電流LEDの特性評価

低電流LEDの高精度 IV特性評価に適したSMUの選択方法と、このテストを実行するためのステップ・バイ・ステップのデモンストレーションをご覧ください。
半導体製造における低電流LEDの高チャンネル密度IV特性評価。

SMUのアプリケーションを発見する

高チャンネル密度ソース測定ユニットを使用した低電力ICテスト
VCSEL LIVテスト用ソース測定ユニット
光デバイス試験用光源測定ユニット
量子 計算の原単位
LEDテスト用ソース測定ユニット
IVカーブ測定ソフトウェア付き高精度 SMUソリューション

キャラクター性を重視し、同調性を抑える

低消費電力集積回路のテストにおける5つの重要な課題を克服するためにSMUを使用する方法と、SMUを使用することで実装の詳細よりもテストに多くの時間を割くことができる方法について説明します。

SMU：より深く

Keysightのエンジニアによるアプリケーションノートで、SMUがテストと評価 課題を克服するためにどのように役立つかをご覧ください。

複数の量子 キュービットにバイアスをかける方法

複数の量子 キュービットにバイアスをかける方法

量子コンピューティングの開発において、複数の量子ビットを制御するために、DCバイアス電圧を供給するには、量子ビットのデコヒーレンスを防止して、量子ビットの完全性を維持する必要があります。

さらに詳しく キーサイトアロー

抵抗測定の方法

抵抗測定の方法

抵抗測定では、テストリードの残留抵抗、熱起電力、測定経路のリーク電流など、誤差を誘発する要因を排除する必要があります。

さらに詳しく キーサイトアロー

太陽電池のIV特性の評価方法

太陽電池のIV特性の評価方法

太陽電池のIV特性を評価するには、4つの測定象限すべてにわたる広範な電流・電圧測定機能が必要です。短絡電流、開放電圧、最大電力点測定などのテストをソース/メジャー・ユニットで実行することで、太陽電池を評価する方法を学びます。

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SMUに関するより深い洞察と質問

このオンデマンド・ウェビナーでは、高精度 ソース/メジャー・ユニット（SMU）試験に関する緊急のご質問にお答えします。
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