ソース／メジャーユニット

半導体産業において、SMUを用いてテストされている集積回路（IC）の画像

適切な高精度、速度、解像度、および密度を組み合わせる

低消費電力集積回路や車載システムのような複雑なシステムを高い信頼性と認定レベルでテストすることは、困難な作業です。ソース/メジャーユニット（SMU）が、低消費電力集積回路テスト、低電流LEDテスト、垂直共振器面発光レーザー（VCSEL）センサー/モジュールテスト、狭パルス光電流電圧（LIV）テスト、光レシーバーおよびモジュレーター用DCバイアス供給テスト、データセンターアプリケーションなど、アプリケーション固有のテストにおける主要な障害を克服するのにどのように役立つかをご覧ください。

SMU使用の基礎を学ぶ

ソースメータの基本を学ぶ

SMUの基本

ソース/メジャーユニット（またはソースメータ）の基本を学びましょう。これは、直流（DC）または電圧を測定しながら、同時にそれらを供給/供給またはシンク/受信する計測器です。

SMUの異なる種類とフォームファクタを学ぶ

SMUのタイプ解説

SMUの様々なフォームファクタと、特定のアプリケーションで性能を最適化するための適切なタイプの選択方法について解説します。SMUのカテゴリとその動作モードの長所と短所を評価します。

SMUで利用可能な各種動作モードについて学ぶ

SMU動作モード解説

ソースメータで一般的に提供される複数の動作モードについて詳しく見ていきましょう。ノーマル、電源、高容量、またはレーザーダイオードモードをいつ使用すべきかを理解してください。

電気材料の特性について学ぶ

シート抵抗の解説

電気材料の基本的な特性であるシート抵抗率について詳しく解説します。半導体デバイス試験において、ソース・メジャー・ユニットを使用してシート抵抗測定を行う方法を理解してください。

SMUのデジタイザモードについて学ぶ

SMUデジタイザモード解説

SMUデジタイザモードの機能と実用的なアプリケーションを理解します。SMUのトリガ制御システムを習得し、タイマートリガ機能を使用するよりも効率的に過渡現象を捕捉する方法を学びます。

注目のコース

コース

半導体設計における低消費電力ICテスト

マルチチャネルIV測定、スリープ電流測定、および動的IV特性評価を実行することで、低消費電力ICのIV特性評価を実施する方法を学びます。
コース

VCSELセンサー/モジュールの狭パルスLIVテスト

面発光レーザー（VCSEL）の光-電流-電圧（LIV）テストにおける、デバイスの自己発熱、狭パルス試験、検出不能な電流と電圧、ケーブル配線エラー、テストポートの制限を含む5つの主要な課題を解決する方法を学びましょう。
コース

複数の量子ビット制御用DCバイアスソース

超伝導回路における複数のZ制御および単一電子トランジスタにおけるシリコンスピンバイアス用の低ノイズDCバイアス源として、量子コンピューティングでSMUを使用する方法を学びます。
コース

光デバイス用精密DCバイアス源

データセンター分野における6つの主要な課題を克服しながら、SMUを精密DCバイアスソースとして使用して光デバイスをテストする方法を学びましょう。
コース

低電流LEDのIV特性評価

低電流LEDの精密IV特性評価に適したSMUの選択方法と、このテストを実行するステップバイステップのデモンストレーションをご覧ください。

SMUアプリケーション

高チャネル ソース・メジャー・ユニットを用いた低電力ICテスト
VCSELソース・メジャー・ユニット
光学デバイスソース・メジャー・ユニット
ソース・メジャー・ユニット 量子
LEDソース・メジャー・ユニット
高密度高精度 ソリューション IV曲線測定ソリューション

特性評価に重点を置き、同調に重点を置かない

SMUを使用して低消費電力集積回路のテストにおける5つの主要な課題を克服する方法と、実装の詳細ではなくテストにより多くの時間を集中できるようにする方法を学びます。

SMU: さらに深く

SMUが、キーサイトのエンジニアによるアプリケーションノートを活用して、テストおよび検証の課題を克服するのにどのように役立つかを学びます。

低消費電力集積回路の特性評価方法

低消費電力ICの電流/電圧特性の測定には、複数の電源、デジタルマルチメータ(DMM)、パルスジェネレータ、デジタイザなど、さまざまな基本測定器が必要です。単一のソース/メジャーユニット(SMU)を使用して、低消費電力ICを効率的かつ迅速に特性評価する方法を学びます。

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抵抗測定の方法

抵抗測定では、残留テストリード抵抗、熱起電力、測定経路内のリーク電流など、誤差を引き起こす要因を排除する必要があります。リモートセンス機能（4線式接続）、オフセット補償、ガード機能を使用してこれらの測定課題に対処する方法を学びます。

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太陽電池のIV特性評価方法

太陽電池のIV特性評価には、4つの測定象限すべてにわたる広範な電流および電圧測定機能が必要です。短絡電流、開放電圧、最大電力点測定などのテストをソース・メジャー・ユニットで実行して、太陽電池を評価する方法をご紹介します。

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高密度高精度ソース／メジャーユニット (SMU) テストに関するお客様の最も差し迫った疑問にお答えする、このオンデマンドウェビナーをご覧ください。

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