소스/측정 장치

반도체 산업에서 SMU를 사용하여 테스트 중인 집적회로(IC)의 이미지

적절한 정밀도, 속도, 해상도 및 밀도를 매칭하십시오

저전력 집적 회로나 자동차 시스템과 같은 복잡한 시스템을 높은 신뢰성과 자격 수준으로 테스트하는 것은 어려운 작업입니다. 소스/측정 장치(SMU)가 저전력 집적 회로 테스트, 저전류 LED 테스트, 수직 공동 표면 발광 레이저(VCSEL) 센서/모듈 테스트, 협대역 펄스 광-전류-전압(LIV) 테스트, 광 수신기 및 변조기용 DC 바이어스 소싱 테스트, 데이터 센터 애플리케이션 등을 포함한 애플리케이션별 테스트에서 주요 장애물을 극복하는 데 어떻게 도움이 되는지 알아보십시오.

SMU 사용의 기초에 대해 알아보십시오.

소스 미터의 기본을 익히세요

SMU 기초

직류(DC) 또는 전압을 측정하면서 동시에 공급하거나 수신하는 장비인 소스/측정 장치(또는 소스 미터)의 기본 사항을 알아보십시오.

SMU의 다양한 유형과 폼 팩터를 알아보세요

SMU 유형 설명

SMU의 다양한 폼 팩터를 살펴보고, 특정 애플리케이션에 대한 성능을 최적화하기 위해 올바른 유형을 선택하는 방법을 알아보십시오. SMU 카테고리 및 작동 모드의 장단점을 평가하십시오.

SMU에서 사용할 수 있는 다양한 작동 모드를 익히십시오

SMU 작동 모드 설명

소스 미터에서 일반적으로 제공되는 여러 작동 모드를 자세히 살펴보십시오. 일반, 전원 공급 장치, 고용량 또는 레이저 다이오드 모드를 언제 사용해야 하는지 이해하십시오.

전기 재료의 특성에 대해 알아보기

면 저항률 설명

전기 재료의 기본 특성인 면 저항률에 대해 심층적으로 알아보십시오. 반도체 장치 테스트에서 소스/측정 장치를 사용하여 면 저항 측정을 수행하는 방법을 이해하십시오.

SMU의 디지털화 모드에 대해 알아보기

SMU 디지타이저 모드 설명

SMU 디지타이저 모드의 기능과 실제 적용 사례를 이해하십시오. SMU의 트리거링 제어 시스템을 능숙하게 활용하고 타이머 트리거 기능을 사용하는 것보다 과도 이벤트를 더 효율적으로 캡처하는 방법을 배우십시오.

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반도체 설계 분야의 저전력 IC 테스트

다채널 IV 측정, 슬립 전류 측정 및 동적 IV 특성화를 수행하여 저전력 IC의 IV 특성화를 수행하는 방법을 알아보십시오.
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VCSEL 센서/모듈의 협펄스 LIV 테스트

수직 공동 표면 발광 레이저(VCSEL)의 LIV(광-전류-전압) 테스트에서 발생하는 상위 5가지 과제(소자 자체 발열, 협폭 펄스 테스트, 감지 불가능한 전류 및 전압, 케이블링 오류 및 테스트 포트 제한 포함) 해결 방법을 알아보십시오.
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다중 양자 큐비트 제어를 위한 DC 바이어스 소스

양자 컴퓨팅에서 SMU를 초전도 회로의 다중 Z 제어를 위한 저노이즈 DC 바이어스 소스 및 단일 전자 트랜지스터의 실리콘 스핀 바이어스로 사용하는 방법을 알아보십시오.
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저전류 LED의 IV 특성화

저전류 LED의 정밀 IV 특성화를 위한 올바른 SMU를 선택하는 방법을 알아보고, 이 테스트를 수행하는 단계별 데모를 시청하십시오.

SMU 애플리케이션을 살펴보십시오

고채널 밀도 소스 측정 장치를 이용한 저전력 IC 테스트
VCSEL LIV 테스트용 소스 측정 장치
광학 장치 테스트용 소스 측정 장치
양자 컴퓨팅용 소스 측정 장치
LED 테스트용 소스 측정 장치
고밀도 정밀 SMU 솔루션 및 IV 곡선 측정 소프트웨어

동기화보다는 특성화에 더 집중

SMU를 사용하여 저전력 집적 회로 테스트의 5가지 주요 과제를 극복하고, 구현 세부 사항보다는 테스트에 더 많은 시간을 할애할 수 있는 방법을 알아보십시오.

SMU 추가 자료

키사이트의 정밀 SMU 기본 사항에 대해 자세히 알아보십시오.

SMU: 심층 분석

키사이트 엔지니어의 애플리케이션 노트를 통해 SMU가 테스트 및 검증 과제를 극복하는 데 어떻게 도움이 되는지 알아보십시오.

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