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消除高速數位設計中的不確定性——逐層分析
當高速鏈路表現不佳時，該如何判斷問題出在發射端、接收端、傳輸通道、量測設定，還是可用的運作餘裕上？
隨著資料傳輸速率不斷提升，要找出效能瓶頸的真正根源也變得越來越具挑戰性。訊號完整性劣化、通道效應、量測設置的限制，以及設計餘裕的減少，都可能導致系統出現預期之外的行為。無論您是分析眼圖、分離抖動成分、進行通道特性分析、建立量測結果之間的關聯性，還是排除間歇性鏈路故障，所面臨的挑戰往往相同：將症狀與根本原因區分開來。
今年十月，我們將邀請是德科技（Keysight）的數位領域專家蒞臨慕尼黑，舉辦一場實務研討會，深入探討在 PCIe、乙太網路及汽車串列資料通訊（SerDes）應用中，針對根本原因分析、通道特性分析、量測相關性及餘裕分析等領域的實證方法。透過實際案例，您將了解工程師如何更深入地洞察系統行為，並在設計、驗證及除錯決策中建立更高信心。
無論您是正在開發新一代 PCIe 系統、驗證汽車級 SerDes 鏈路，還是排除棘手的訊號完整性問題，本研討會都將提供您可立即運用的實用見解。點擊此處查看各場次詳情，並註冊領取這場為期一天的「活動 」免費入場券。除了專題演講外，您還可在休息時間及研討會結束後，直接與是德科技 (Keysight) 專家交流，討論您在設計、驗證及疑難排解方面所面臨的挑戰。
從事高速數位系統設計、驗證、測試及故障排除的工程師，包括訊號完整性工程師、硬體設計工程師、驗證與測試工程師、系統架構師，以及負責 PCIe、乙太網路、車用串列資料通訊（SerDes）、PAM4、NRZ 及其他高速串列介面的合規工程師。