如何減輕側通道洩漏

旁通道分析
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分析嵌入式裝置中的洩漏

側通道驗證需要控制密碼編譯程式碼的執行,同時擷取功耗或電磁輻射等物理發射。此工作流程結合了裝置控制、觸發、擷取和訊號處理,讓評估人員能夠觀察敏感操作在實際執行期間是否產生可測量的洩漏。

然後,可以使用重複擷取、統計檢查和密碼分析,根據測量行為來審查程式設計模式和實作選擇。此程序有助於工程師識別與潛在資訊洩露相關的時間區域,並降低安全關鍵型嵌入式裝置中的機密性和完整性弱點。

側通道洩漏緩解方案

洩漏緩解始於從待測裝置擷取可重複的物理跡線,並透過擷取、訊號處理和密碼分析工作流程進行分析,以揭示敏感的實作細節。Keysight 的側通道分析解決方案透過高解析度電源和電磁發射分析(包括差分功率分析),協助工程師評估嵌入式裝置、晶片和智慧卡。安全的程式設計和實作實務可進一步減少洩漏和故障引起的弱點。

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減輕側通道洩漏

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