サイドチャネル漏洩を軽減する方法

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組み込みデバイスにおけるリーク解析

サイドチャネル検証では、消費電力や電磁放射などの物理的なエミッションを捕捉しながら、暗号コードを制御して実行する必要があります。このワークフローは、デバイス制御、トリガ、捕捉、信号処理を組み合わせることで、評価者が機密性の高い操作が実際の実行中に測定可能なリークを生成するかどうかを観察できるようにします。

その後、プログラミングパターンと実装の選択は、繰り返し捕捉、統計的チェック、および暗号解析を使用して、測定された動作に対してレビューできます。このプロセスは、エンジニアが潜在的な情報漏洩に関連する時間領域を特定し、セキュリティ上重要な組み込みデバイスにおける機密性と完全性の脆弱性を低減するのに役立ちます。

サイドチャネル漏洩の軽減ソリューション

リーク軽減は、被試験デバイスから再現可能な物理トレースを捕捉し、機密性の高い実装の詳細を明らかにする捕捉、信号処理、および暗号解析ワークフローを通じてそれらを解析することから始まります。キーサイトのサイドチャネル解析ソリューションは、差分電力解析を含む高分解能の電力および電磁エミッション解析を通じて、エンジニアが組み込みデバイス、チップ、スマートカードを評価するのに役立ちます。安全なプログラミングと実装プラクティスは、リークと故障誘発の脆弱性をさらに低減します。
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サイドチャネルによる情報漏洩の軽減

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