サイドチャネル漏洩を軽減する方法

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組み込みデバイスにおけるリーク電流の解析

サイドチャネル検証では、消費電力や電磁放射などの物理的エミッションを計測しながら、暗号コードを制御された状態で実行する必要があります。このワークフローでは、デバイスの制御、トリガ、データ取得、信号処理を組み合わせることで、評価担当者は、機密性の高い処理が実際の実行中に測定可能なリークを発生させているかどうかを観察できるようになります。

その後、反復的なデータ取得、統計的検証、および暗号解析を用いて、測定された動作に基づいてプログラミングパターンや実装の選択を見直すことができます。このプロセスにより、エンジニアは情報漏洩の可能性がある時間領域を特定し、セキュリティが極めて重要な組み込みデバイスにおける機密性や完全性の脆弱性を低減することができます。

サイドチャネル漏洩の軽減ソリューション

リーク対策は、まず被試験デバイスから再現性のある物理的痕跡を捕捉し、それらをデータ取得、信号処理、および暗号解析のワークフローを通じて分析することから始まります。この分析により、機密性の高い実装の詳細が明らかになります。キーサイトのサイドチャネル解析ソリューションは、差動電力解析を含む高解像度の電力および電磁放射解析を通じて、エンジニアが組み込みデバイス、チップ、スマートカードを評価するのを支援します。また、安全なプログラミングおよび実装手法を採用することで、リークや故障に起因する脆弱性をさらに低減することができます。
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サイドチャネルによる情報漏洩の軽減

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