如何提高 TDECQ 的測量精度

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+ 模組化取樣示波器

改善 TDECQ 量測相關性和重複性

發射器和色散眼圖閉合四級 (TDECQ) 是 IEEE 802.3 光學介面規範中定義的關鍵指標，用於評估 400G、800G 和新興 1.6T 互連中的 PAM4 光學發射器性能。工程師使用 TDECQ 來量化波形失真、雜訊和色散所引入的功率損耗，但此量測對測試條件高度敏感。光學輸入功率、參考接收器響應、等化器最佳化、時脈回復行為或波形擷取中的微小變化，都可能導致在開發、驗證和製造環境中產生不一致的結果，使合規性相關性和除錯變得複雜。

工程師使用配置了符合 IEEE 標準的參考接收器濾波器、時脈回復和虛擬等化功能的圖案鎖定取樣示波器來執行 TDECQ 分析。此工作流程會擷取 SSPRQ 波形，應用標準化的頻寬濾波和等化器最佳化，並計算由此產生的發射器功率損耗。模組化取樣架構透過將經過校準的光學擷取硬體直接放置在量測介面處，同時保持受控的訊號路徑，從而提高量測重複性。這種方法減少了與光學連接、通道響應和系統配置相關的變異性，從而提高預先符合性驗證結果的信心。

精確的 TDECQ 測量解決方案

提高 TDECQ 量測準確度需要控制光學擷取、參考接收器響應、時脈回復行為和等化器配置，以最大程度地減少與設定相關的變異。Keysight 的 TDECQ 量測解決方案結合了模組化取樣示波器架構、經過校準的光學量測模組和 FlexDCA 分析軟體，以標準化波形擷取和 TDECQ 處理。工程師可以應用符合 IEEE 標準的參考接收器濾波器、最佳化等化器設定、維持一致的光學訊號條件，並改善多個通道和測試系統之間的相關性。

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