如何提高 TDECQ 的測量精度

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+ 模組化取樣示波器

提升 TDECQ 測量相關性與重複性

發射器與色散眼圖閉合四元數（TDECQ）是 IEEE 802.3 光學介面規格中定義的一項關鍵指標，用於評估 400G、800G 以及新興的 1.6T 互連中 PAM4 光學發射器的性能。工程師利用 TDECQ 來量化波形失真、雜訊和色散所造成的功率損耗，但此測量結果對測試條件極為敏感。光輸入功率、參考接收器響應、均衡器優化、時鐘恢復行為或波形擷取方面的微小變化，都可能導致開發、驗證和製造環境中的測量結果不一致，從而使合規性關聯分析與除錯工作變得複雜。

工程師使用配備符合 IEEE 標準的參考接收器濾波器、時鐘恢復及虛擬均衡功能的模式鎖定採樣示波器，進行 TDECQ 分析。該工作流程會擷取 SSPRQ 波形，施加標準化的頻寬濾波與等化器優化，並計算由此產生的發射機功率損失。模組化採樣架構透過將經校準的光學擷取硬體直接配置於測量介面，同時維持受控的訊號路徑，從而提升測量的重複性。此方法可降低因光學連接、通道響應及系統配置所導致的變異性，進而提高對預合規驗證結果的信賴度。

精確的 TDECQ 測量解決方案

要提升 TDECQ 測量精度，必須控制光訊號擷取、參考接收器響應、時鐘恢復行為以及均衡器配置，以將受設定影響的波動降至最低。是德科技的 TDECQ 測量解決方案結合了模組化採樣示波器架構、經校準的光學測量模組以及 FlexDCA 分析軟體，藉此標準化波形擷取與 TDECQ 處理流程。工程師可套用符合 IEEE 標準的參考接收器濾波器、優化等化器設定、維持一致的光訊號條件，並提升跨多通道與測試系統間的相關性。

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