如何產生與分析相干光波形

+ 光調變分析儀

產生與分析相干光訊號

相干光波形產生始於以數位方式定義的波形，其指定了調變格式、符元率、脈衝成形和訊號損傷等參數。同步化的任意波形產生器通道可產生驅動光學 IQ 調變器所需的電氣同相 (I) 與正交 (Q) 訊號，進而建立同時帶有振幅與相位資訊的相干光訊號。此方法可精確控制波形特性，並支援在多種元件設定、調變機制與操作條件下進行可重複的測試。透過根據可程式化數位定義來產生訊號，工程師能夠評估新設計、比較效能與預期結果的差異，並支援現代光網路與高容量資料傳輸系統中所使用的先進相干光通訊技術之開發。

為了驗證產生的訊號是否如預期運作，工程師會使用相干光訊號分析來量測光學振幅與相位。校準過的相干接收器結合數位訊號處理技術，能夠復原光波形並進行詳細的光學星狀圖分析。諸如錯誤向量磁代 (EVM)、相位誤差、振幅誤差以及星狀圖品質等量測，有助於揭露由電氣驅動電路、光學元件或傳輸路徑所引入的訊號損傷。這些結果可讓工程師將量測效能與原始波形定義進行比較，並進行針對性的調整以改善訊號品質。透過在統一的工作流程中結合相干光波形產生、相干光測試與光學調變分析，工程師能夠加速光收發器開發、特性化高速相干訊號，並以可重複且以資料為驅動的方法來驗證系統效能。

相干光波形分析解決方案

為了產生相干光測試波形，工程師必須建立同步化的電氣 I/O 訊號、驅動光學 IQ 調變器，並驗證產生的光訊號是否能精確重現預期的調變行為。Keysight 相干光波形分析解決方案結合了校準過的光學調變分析器、高速任意波形產生、高頻寬訊號擷取以及數位訊號處理，以便在整個開發和驗證過程中建立、擷取並評估複雜的相干光訊號。透過復原振幅與相位資訊，該解決方案能讓工程師將量測結果與原始波形定義進行比較，並識別影響訊號品質的損傷。光學星狀圖分析以及諸如錯誤向量磁代 (EVM)、相位誤差和振幅誤差等量測，可提供有關調變效能與波形保真度的深入見解。工程師可利用這些結果來最佳化波形參數、驗證調變格式、調查確定性損傷，並特性化高速相干光訊號。透過在統一的工作流程中整合相干光波形產生與相干光訊號分析，該解決方案支援光收發器開發、相干光通訊研究，以及在各種操作條件下的可重複效能驗證。

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