如何校準光學光譜測試路徑

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+ 可調諧雷射

消除波長相關的路徑誤差

用於表徵光子元件的光譜測試站，其光路包含可調諧雷射、開關、光纖、連接器和功率計。每個元件都會引入與波長相關的損耗、漣波和漂移，這些會扭曲測得的光譜並掩蓋真實的元件特性。當這些效應在複雜的路由路徑中累積時，會導致插入損耗測量結果不一致、光譜響應傾斜，並降低在不同埠、設定或測試站之間比較結果時的信心。

隨著光子測試環境擴展以支援多個元件、並行光路和寬頻波長掃描，維持光譜測量準確度變得越來越具挑戰性。工程師必須表徵並校正整個光路中與波長相關的插入損耗，同時考量路徑間的差異和隨時間的變化。需要精確的校準來建立穩定的光學參考平面，並確保測得的功率與波長關係反映的是元件的固有行為，而非測試系統引入的假象。

光譜測試路徑校準解決方案

消除與波長相關的測量誤差，需要在元件測試開始前校準完整的光學訊號路徑。Keysight 的光學光譜測試路徑校準解決方案使用可調諧雷射，透過光學開關掃描每個路由光路中的波長，同時光功率計測量傳輸功率。Lambda Scan 軟體會為每個路徑導出與波長相關的校正因子，並將其應用於後續測量，以補償系統性損耗和漣波。這種路徑校準可在元件測試前，提高插入損耗準確度、測量重複性和跨埠、路徑和測試站的一致性。

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