如何校準光學光譜測試路徑

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+ 可調諧雷射

消除波長相關的路徑誤差

用於表徵光子元件的光譜測試站，其運作仰賴由可調式雷射、開關、光纖、連接器及功率計所組成的光路。每個元件都會引入取決於波長的損耗、波紋及漂移，這些因素會扭曲測量到的光譜，並掩蓋元件的真實特性。當這些效應在複雜的光路中累積時，便會導致插入損耗測量結果不一致、光譜響應偏移，並降低在不同埠、設定或測試站之間比較結果時的可信度。

隨著光子測試環境不斷擴展，以支援多組裝置、平行光路及寬頻波長掃描，維持光譜測量精確度變得愈發困難。工程師必須針對整個光路進行特性分析並校正波長相關的插入損耗，同時考量不同光路間的差異以及隨時間的變化。精確的校準對於建立穩定的光學參考平面至關重要，並能確保測得的功率與波長關係確實反映裝置的本質特性，而非測試系統所引入的誤差。

光譜測試路徑校準解決方案

要消除與波長相關的測量誤差，必須在開始測試裝置之前，先對整個光訊號路徑進行校準。是德科技的光譜測試路徑校準解決方案，利用可調波長雷射透過光學開關掃描各路由光路，同時由光功率計測量傳輸功率。Lambda Scan 軟體會為每條路徑推導出波長相關的校正係數，並將其應用於後續測量中，以補償系統性損耗與波紋。此路徑校準可在裝置測試前，提升插入損耗的準確度、測量重複性，並確保各連接埠、路徑及測試站之間的一致性。

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