光学分光測定経路の校正方法

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波長依存性パスエラーの除去

フォトニックコンポーネントの特性評価に使用されるスペクトルテストステーションは、波長可変レーザー、スイッチ、光ファイバー、コネクター、パワーメーターで構成される光路に依存しています。各要素は、測定スペクトルを歪ませ、真のデバイス特性を不明瞭にする波長依存性の損失、リップル、ドリフトを引き起こします。これらの影響が複雑なルーティングパス全体で蓄積されると、挿入損失測定の不整合、スペクトル応答の傾き、ポート、セットアップ、またはテストステーション間で結果を比較する際の信頼性の低下につながります。

複数のデバイス、並列光パス、広帯域波長掃引をサポートするためにフォトニックテスト環境が拡張されるにつれて、スペクトル測定の精度を維持することがますます困難になっています。エンジニアは、パス間の差異や経時変化を考慮し、光パス全体の波長依存性挿入損失を特性評価し、補正する必要があります。安定した光リファレンスプレーンを確立し、測定された波長対パワーがテストシステムによって導入されたアーチファクトではなく、デバイス本来の動作を反映していることを保証するには、正確な校正が必要です。

光学スペクトル測定経路の校正ソリューション

波長依存性測定誤差を排除するには、デバイスのテストを開始する前に、光信号パス全体を校正する必要があります。キーサイトの光スペクトルテストパス校正ソリューションは、光スイッチを介して各ルーティングされた光パスに波長を掃引するためにチューナブルレーザーを使用し、同時に光パワーメータが透過パワーを測定します。Lambda Scanソフトウェアは、各パスの波長依存性補正係数を導出し、後続の測定に適用して、系統的な損失とリップルを補償します。このパス校正により、デバイスのテスト前に、挿入損失の精度、測定の再現性、およびポート、パス、テストステーション間の一貫性が向上します。
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