光学分光測定経路の校正方法

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波長依存の経路誤差を除去する

フォトニック部品の特性評価に使用されるスペクトル測定ステーションは、波長可変レーザー、スイッチ、光ファイバー、コネクタ、パワーメータで構成される光路に依存しています。各要素は、波長に依存する損失、リップル、ドリフトを引き起こし、これらが測定スペクトルを歪め、デバイスの真の特性を不明瞭にします。これらの影響が複雑な配線経路全体で蓄積すると、挿入損失の測定値にばらつきが生じ、スペクトル応答が歪み、ポート間、セットアップ間、あるいは測定ステーション間で結果を比較する際の信頼性が低下することになります。

フォトニック試験環境が、複数のデバイス、並列光路、および広帯域波長スイープに対応できるよう拡張されるにつれ、分光測定の精度を維持することはますます困難になっています。エンジニアは、光路間の差異や経時的な変化を考慮しつつ、光路全体にわたる波長依存性の挿入損失を評価・補正する必要があります。安定した光基準面を確立し、測定された波長対出力値が、試験システムによって生じたアーチファクトではなく、デバイス固有の挙動を反映していることを保証するためには、正確な校正が不可欠です。

光学スペクトル測定経路の校正ソリューション

波長に依存する測定誤差を排除するには、デバイスの試験を開始する前に、光信号経路全体を校正する必要があります。 キーサイトの光スペクトル・テストパス校正ソリューションは、チューナブルレーザーを用いて光スイッチを介して各ルーティングされた光パスで波長を掃引し、その間、光パワーメーターが透過パワーを測定します。Lambda Scanソフトウェアは、各パスに対する波長依存の補正係数を導出し、それをその後の測定に適用することで、系統的な損失やリップルを補償します。このパス校正により、デバイス試験に先立ち、ポート、パス、およびテストステーション全体における挿入損失の精度、測定の再現性、および一貫性が向上します。
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