如何表徵多通道 IV 曲線

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+ 模組化源量測單元

多通道和動態 IV 特性分析

多通道電流對電壓 (IV) 特性分析需要同步的源和量測控制、彈性的掃描方法，以及跨多個裝置節點的時域擷取。工程師可能需要執行主要掃描、步階響應量測和窄脈衝量測，同時控制順從性、量測範圍、時序和穩定時間，以確保電壓和電流結果在各通道之間保持一致。

特性分析過程通常結合靜態電流對電壓掃描與取樣式量測，以在相同的環境中觀察暫態響應和脈衝波形行為。它還需要圖形和表格視圖來比較通道、驗證時序、檢查對數電流行為，並在對半導體、光學裝置、主動元件和被動元件進行量測之後匯出數值結果。

多通道 IV 特性分析解決方案

多通道 IV 特性分析需要同步的源量測通道、掃描和取樣控制，以及立即檢視靜態和動態量測中的電流和電壓行為。Keysight 解決方案結合 PZ2100 系列高通道密度精密源量測 (SMU) 單元平台與 PW9251A PathWave IV 曲線量測軟體，以支援同步 IV 掃描、步階響應量測和脈衝波形擷取。此配置支援多達 20 個源量測單元通道、預覽時序驗證、圖形和表格分析、基於數位轉換器的脈衝量測，以及實現更寬動態範圍的無縫量程切換。總體而言，這些功能可協助工程師無需自訂程式設計即可執行複雜的 IV 量測，並快速檢視結果。

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