多チャンネルIV曲線の特性評価方法

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マルチチャネルおよびダイナミックIVの特性評価

マルチチャネル電流対電圧（IV）特性評価には、同期されたソースおよび測定制御、柔軟な掃引方法、および複数のデバイスノードにわたる時間領域キャプチャが必要です。エンジニアは、コンプライアンス、測定レンジ、タイミング、およびセトリングを制御しながら、プライマリ掃引、ステップ応答測定、および狭パルス測定を実行する必要がある場合があります。これにより、電圧および電流の結果がチャネル間で整合を保つことができます。

この特性評価プロセスは、通常、静的電流対電圧掃引とサンプリングベースの測定を組み合わせて、同じ環境で過渡応答およびパルス波形挙動を観察します。また、半導体、光デバイス、能動部品、および受動部品の測定後、チャネルの比較、タイミングの検証、対数電流挙動の検査、および数値結果のエクスポートのために、グラフおよびテーブル表示が必要です。

マルチチャネルIV特性評価ソリューション

マルチチャネルIV特性評価には、同期されたソース測定チャネル、掃引およびサンプリング制御、ならびに静的および動的測定における電流および電圧挙動の即時レビューが必要です。キーサイトのソリューションは、PZ2100シリーズ高チャネル密度高精度ソース測定（SMU）ユニットプラットフォームとPW9251A PathWave IVカーブ測定ソフトウェアを組み合わせることで、同期IV掃引、ステップ応答測定、およびパルス波形キャプチャをサポートします。この構成は、最大20のソース測定ユニットチャネル、プレビュータイミング検証、グラフおよびテーブル分析、デジタイザベースのパルス測定、およびより広いダイナミックレンジのためのシームレスなレンジングをサポートします。これらの機能を組み合わせることで、エンジニアはカスタムプログラミングなしで複雑なIV測定を実行し、結果を迅速にレビューすることができます。
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マルチチャネルIV特性評価ソリューションのブロック図を参照

多チャンネルIV曲線の特性評価方法

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