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利用適用於 WGFMU 的統包式量測驅動程式和量測例行程序，自動執行晶圓級低頻雜訊量測。
產品特性
W7801B PathWave WaferPro WGFMU 量測軟體具備下列特性：
- 可與 WaferPro Express 量測平台無縫整合
- 進階資料顯示與分析功能，可針對偏壓電流進行雜訊資料比較和建模
- 可自動控制所有主要的晶圓探量系統
- 多種內建偏壓機制，可用於閃變雜訊特性分析
- 量測資料與是德科技元件建模軟體相容
- RTN 的 Ton 和 Toff 分析
W7801B PathWave WaferPro Express WGFMU 量測軟體套件，可與 B1500A 半導體元件分析儀和 B1530A 波形產生器/快速量測設備（WGFMU）搭配使用，以便有效地執行晶圓上自動化隨機電報雜訊（RTN）量測。 它還可增進 RTN 量測與資料分析（包括晶圓探測器控制）效率。
使用合適的工具提升您的工作技能
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