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W7801B PathWave WaferPro WGFMU 測定
A flexible, open test executive platform to automate wafer-level low-frequency noise measurements of semiconductor devices and circuits with WGFMU
スタート価格:
Execute automated wafer-level low-frequency noise measurement with turnkey measurement drivers and measurement routines for WGFMU.
ハイライト
W7801B PathWave WaferPro WGFMU 測定には次の特徴があります。
- WaferPro Express 測定プラットフォームとシームレスに統合
- 高度なデータディスプレイと解析により雑音データ比較とバイアス電流に対するモデリングが可能
- すべての主要なウエハー・プロービング・システムの自動制御
- フリッカーノイズ評価のための複数の内蔵バイアス方式
- キーサイトのデバイス・モデリング・ソフトウェアと互換性のある測定データ
- RTNのTonおよびToff解析
W7801B PathWave WaferPro Express WGFMU 測定バンドルはB1500A 半導体デバイス・アナライザとB1530A 波形発生器／高速測定ユニット(WGFMU)を使用して、低コストの自動ランダム・テレグラフ・ノイズ(RTN)測定をウエハー上でで効率的に実行します。 ウエハープローブ制御を含むRTN測定とデータ解析の効率が向上します。
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